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基于ATE的快充芯片的测试系统设计及其测试中trim技术研究
| 论文题名： | 基于ATE的快充芯片的测试系统设计及其测试中trim技术研究 |
| 关键词： | ATE;快充;芯片;测试;系统设计;trim |
| 作者： | 马富民 |
| 专业： | 电子科学与技术 |
| 导师： | 付贤松 |
| 授予学位： | 硕士 |
| 授予学位单位： | 天津工业大学 |
| 学位年度： | 2019 |
| 正文语种： | 中文 |
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| 论文题名： | 基于ATE的快充芯片的测试系统设计及其测试中trim技术研究 |
| 关键词： | ATE;快充;芯片;测试;系统设计;trim |
| 作者： | 马富民 |
| 专业： | 电子科学与技术 |
| 导师： | 付贤松 |
| 授予学位： | 硕士 |
| 授予学位单位： | 天津工业大学 |
| 学位年度： | 2019 |
| 正文语种： | 中文 |