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原文传递 基于门控单元和卷积自编码的故障诊断与剩余使用寿命预测研究
论文题名: 基于门控单元和卷积自编码的故障诊断与剩余使用寿命预测研究
关键词: 门控单元;卷积;自编码;故障诊断;剩余使用寿命
作者: 张光宇
专业: 仪器科学与技术
导师: 温江涛
授予学位: 硕士
授予学位单位: 燕山大学
学位年度: 2021
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