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一种便于磨抛透射电镜试样的装置
| 专利名称： | 一种便于磨抛透射电镜试样的装置 |
| 摘要： | 一种便于磨抛透射电镜试样的装置属于金属材料磨抛试样设备领域。其特征在于：由带有中心通孔的柱体、螺栓构成；螺栓放置在中心通孔内且与柱体紧密扣合；螺栓的上半部分为标准螺栓，下半部分为与标准螺栓同轴且一体的延长杆，此延长杆是直径为3mm的圆柱杆。通过旋转螺栓使延长杆向下运动，当延长杆触及圆片时，根据所需最终的磨抛厚度，将薄圆片一点点顶出，进行机械研磨，直到减薄至所需尺寸。本装置具备以下优点：1、实用性强，针对切成φ3mm的各种圆片都可进行磨抛操作。2、直观便捷地控制磨抛过程中对圆片厚度的把握。3、提高效率，对剪切成φ3mm的圆片进行再磨抛，可提高制备透射电镜试样的效率和成功率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学 |
| 发明人： | 范爱玲;张姗;黄浪;马捷;魏建忠 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-12-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110442695.5 |
| 公开号： | CN102519778A |
| 代理机构： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
| 代理人： | 刘萍 |
| 分类号： | G01N1/32(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 一种便于磨抛透射电镜试样的装置，其特征在于：由带有中心通孔的柱体和螺栓构成；螺栓放置在柱体中心通孔内且与柱体紧密扣合；螺栓的上半部分为标准螺栓，下半部分为与标准螺栓同轴且一体的延长杆，此延长杆是直径为3mm的圆柱杆。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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