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绝缘结构综合应力加速寿命试验方法研究
| 题名： | 绝缘结构综合应力加速寿命试验方法研究 |
| 正文语种： | 中文 |
| 作者： | 郭彬乾 黄慧洁 管兆杰 |
| 作者单位： | 上海电器科学研究所(集团)有限公司,上海 200063;上海电器设备检测所,上海 200063 |
| 关键词： | 绝缘结构 综合应力 加速寿命试验 可靠性评估 |
| 摘要： | 针对绝缘结构在实际使用过程中受到综合应力因素的影响的特点，提出了一种基于综合应力的绝缘结构可靠性评估方法，可以有效地指导绝缘结构加速寿命试验的设计和实施。首先通过对绝缘结构进行失效机理及应力分析，确定影响绝缘结构寿命的主要应力，选取适当的综合应力加速模型。其次，确定各加速应力水平，进行综合应力加速寿命试验方案的设计。最后，基于失效数据对绝缘结构进行可靠性评估。 |
| 会议日期： | 20161123 |
| 会议举办地点： | 重庆 |
| 会议名称： | 2016年环境技术研讨会 |
| 出版日期： | 2016-11-23 |
| 母体文献： | 2016年环境技术研讨会论文集 |
| 分类号： | TB114.3 |
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