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原文传递金溢科技出席我国LTE-V2X频率验证外场测试

题名：	金溢科技出席我国LTE-V2X频率验证外场测试
正文语种：	中文
期刊名称：	中国交通信息化
出版年：	2017
期：	10
页码：	71

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