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基于线阵CCD的在线亚像素边缘测量系统
| 题名： | 基于线阵CCD的在线亚像素边缘测量系统 |
| 正文语种： | 中文 |
| 作者： | 雷波；卢红 |
| 关键词： | 挠度测量；亚像素；线阵CCD；FPGA |
| 摘要： | 为了提高精密矫直机测量工件挠度的精度和效率，提出了一种集成FPGA的在线亚像素边缘测量系统。详细介绍了利用线阵CCD对工件挠度进行非接触测量的系统原理和流程，利用CCD图像信号边缘梯度的特性，介绍了一种基于多项式插值且易于集成在FPGA的亚像素边缘检测算法。仿真实验证明，该测量系统重复性误差为0．18个像元，达到了亚像素测量精度。 |
| 期刊名称： | 武汉理工大学学报（信息与管理工程版） |
| 出版年： | 2010 |
| 期： | 04 |
| 页码： | 526-529 |
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