专利名称: |
一种检测MLCC用导电浆料分散性的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种检测MLCC用导电浆料分散性的方法,用刮膜器将待检测导电浆料涂抹在光滑的塑料薄膜上,得到表面均匀且厚度均匀的样品薄膜;将样品薄膜连同塑料薄膜一并放入烘箱中心进行烘干;将烘干好的样品薄膜连同塑料薄膜从烘箱中取出;在洁净的纸上,揭下烘干好的样品薄膜上的塑料薄膜,保持烘干好的样品薄膜完整性,用刀把上述样品薄膜切成长度和宽度均相等的多个待测样本薄膜;每个待测样本薄膜通过MD‑300S电子比重天平进行测量,得到每个待测样本对应的干膜密度,待检测导电浆料所对应的干膜密度为上述测量结果的平均值。本发明通过干膜密度大小判断导电浆料分散性好坏,并可以对亚微米级的导电浆料的分散性进行评估,方法快速、便捷。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
辽宁;21 |
申请人: |
大连海外华昇电子科技有限公司 |
发明人: |
李岩;陈将俊;王辉 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-29T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-12T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910356879.6 |
公开号: |
CN110006778A |
代理机构: |
大连东方专利代理有限责任公司 |
代理人: |
唐楠;李洪福 |
分类号: |
G01N9/36(2006.01);G;G01;G01N;G01N9 |
申请人地址: |
116000 辽宁省大连市高新区七贤岭信达街28号院内厂房 |
主权项: |
1.一种检测MLCC用导电浆料分散性的方法,其特征在于具有如下步骤: S1、用刮膜器将待检测导电浆料涂抹在光滑的塑料薄膜上,得到表面均匀且厚度均匀的样品薄膜; S2、将样品薄膜连同塑料薄膜一并放入烘箱中心进行烘干,以去除溶剂; S3、在烘箱外湿度小于50%的条件下,将烘干好的样品薄膜连同塑料薄膜从烘箱中取出; S4、在洁净的纸上,揭下烘干好的样品薄膜上的塑料薄膜,保持烘干好的样品薄膜完整性,用刀把上述样品薄膜切成长度和宽度均相等的多个待测样本薄膜; S5、每个待测样本薄膜通过MD-300S电子比重天平进行测量,得到每个待测样本对应的干膜密度,待检测导电浆料所对应的干膜密度为上述测量结果的平均值。 2.根据权利要求1所述的检测MLCC用导电浆料分散性的方法,其特征在于:在步骤S1之前,通过热差分析仪获得待检测导电浆料的各原料组分溶剂的热裂解温度,其中,温度最高的热裂解温度加1-5℃即为所述步骤S2中烘干的烘干温度。 3.根据权利要求2所述的检测MLCC用导电浆料分散性的方法,其特征在于:所述步骤S2中烘干的烘干时间为2小时。 4.根据权利要求1所述的检测MLCC用导电浆料分散性的方法,其特征在于:所述刮膜器呈长方体结构,其长宽高分别为4cm,4cm和1cm; 所述刮膜器具有贯通其上端面和下端面的方孔,所述方孔的长宽高分别为3cm,3cm和1cm; 所述刮膜器前端面底部具有与所述方孔连通的通槽,所述通槽的左槽壁与所述方孔的左孔壁位于同一平面,所述通槽的右槽壁与所述方孔的右孔壁位于同一平面,且所述通槽的槽深为20μm; 所述步骤S1中,用刮膜器将待检测导电浆料涂抹在光滑的塑料薄膜上的具体步骤如下:所述刮膜器置于塑料薄膜上,用待检测导电浆料注满所述方孔,所述刮膜器前端面在后,所述刮膜器后端面在前,沿直线拖动所述刮膜器将待检测导电浆料涂抹在光滑的塑料薄膜上,截取涂抹在光滑的塑料薄膜上的待检测导电浆料的中间部分,得到表面均匀且厚度均匀的样品薄膜。 5.根据权利要求1所述的检测MLCC用导电浆料分散性的方法,其特征在于:所述塑料薄膜为PET膜。 |
所属类别: |
发明专利 |