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钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法
| 专利名称： | 钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法 |
| 摘要： | 本发明属于钙钛矿量子点检测技术领域，具体涉及钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法。本发明利用电子束辐照钙钛矿量子点表面，去除钙钛矿量子点的表面缺陷；所述电子束由透射电子显微镜提供时，所述电子束的束流密度≥17pA/cm2；所述电子束由扫描透射电子显微镜提供时，所述电子束的斑尺寸≥0.26nm，电子束流≥0.16nA。本发明提供的方法能够有效去除钙钛矿量子点的表面缺陷，避免了表面缺陷对钙钛矿量子点晶体结构分析所带来的干扰。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 梁国弘;刘红丽;袁龙飞;靳凤民;方卉;刘士新 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2023-08-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2023-11-24T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN202311074928.X |
| 公开号： | CN117110328A |
| 代理机构： | 北京高沃律师事务所 |
| 代理人： | 霍苗 |
| 分类号： | G01N23/04;G01N23/2251;G01N23/2202;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04;G01N23/2251;G01N23/2202 |
| 申请人地址： | 300073 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，包括以下步骤： 利用电子束辐照钙钛矿量子点表面，去除钙钛矿量子点的表面缺陷； 所述电子束由透射电子显微镜提供时，所述电子束的束流密度≥17pA/cm2； 所述电子束由扫描透射电子显微镜提供时，所述电子束的斑尺寸≥0.26nm，电子束流≥0.16nA。 2.根据权利要求1所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述钙钛矿量子点的化学式如式1所示：CsPbX3式1，式1中的元素X为卤素；所述钙钛矿量子点的表面缺陷为[PbX6]4-八面体。 3.根据权利要求2所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述钙钛矿量子点为CsPbBr3量子点或CsPbI3量子点。 4.根据权利要求1～3任一项所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述钙钛矿量子点的晶粒尺寸为7～12nm；所述钙钛矿量子点的表面缺陷的尺寸为1～2nm。 5.根据权利要求1所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述电子束由透射电子显微镜提供时，所述电子束的束流密度为17pA/cm2。 6.根据权利要求1所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述电子束由扫描透射电子显微镜提供时，所述电子束的斑尺寸为0.26nm，电子束流为0.16nA。 7.根据权利要求1、5或6所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述辐照的时间为60～120s。 8.一种钙钛矿量子点的微观尺度图像的获取方法，其特征在于，包括以下步骤： 将钙钛矿量子点的溶液涂覆在基底表面，形成钙钛矿量子点样品层；采用权利要求1～7任一项所述的方法去除样品层中钙钛矿量子点的表面缺陷； 采用透射电子显微镜、高分辨透射电子显微镜、高角环形暗场像和扫描透射明场像中的一种或多种测试去除表面缺陷的钙钛矿量子点样品层，获取钙钛矿量子点的微观尺度图像。 |
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