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原文传递一种判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法

专利名称：	一种判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法
摘要：	本发明公开了一种判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，属于电子铝箔技术领域。该方法包括：(1)在电子铝箔样品上待测位置处取样；(2)磷酸溶液倒入可导电银杯中，放入恒温的水浴锅中；(3)选择LCR数字电桥测量样片电容，两根连接线一条连接银杯，一条连接检测样片；(4)将检测样片的被测部分放入磷酸溶液中后固定，并记录电容的数值变化，通过测量电容值的变化，可反映氧化膜厚度的变化情况，根据氧化膜厚度变化情况判断氧化膜去除难易程度。该方法避免了现有技术仅能测量氧化膜厚度的单一性，通过氧化膜的连续去除检测，根据电子铝箔表面氧化膜去除的难易程度，判断箔面的一致性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	新疆;65
申请人：	新疆众和股份有限公司
发明人：	贺耀文;张振江;左宏;蒲剑丛;刘明;崔敬鑫;赵冀
专利状态：	有效
申请日期：	2023-08-04T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-14T00:00:00+0800
申请号：	CN202310975153.7
公开号：	CN117054495A
代理机构：	沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人：	于晓波
分类号：	G01N27/22;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/22
申请人地址：	830013 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市高新区喀什东路18号
主权项：	1.一种判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，其特征在于：该方法通过更换零伏比容法的检测溶液，将其更换为可与氧化铝反应的磷酸溶液，在一定的温度下，采用连续氧化膜检测，测量电容的变化情况。 2.根据权利要求1所述的判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，其特征在于：该方法包括如下步骤： (1)在电子铝箔样品上待测位置处取样； (2)准备磷酸溶液，倒入可导电银杯中，放入恒温的水浴锅中； (3)选择LCR数字电桥测量样片电容，两根连接线一条连接银杯，一条连接检测样片； (4)将检测样片的被测部分放入磷酸溶液中后固定，并记录电容的数值变化，通过测量电容值的变化，可反映氧化膜厚度的变化情况，根据氧化膜厚度变化情况判断氧化膜去除难易程度。 3.根据权利要求2所述的判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，其特征在于：步骤(1)中，不同取样位置保证在溶液中的面积一定，取好的箔样不能用手触摸测试部分。 4.根据权利要求2所述的判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，其特征在于：步骤(2)中，所述磷酸溶液的浓度为0.2-0.7mol/L，水浴锅温度保持在40-70℃。 5.根据权利要求2所述的判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，其特征在于：步骤(3)中，LCR数字电桥的参数选择电容C、频率选择100HZ、等效选择串联。 6.根据权利要求2所述的判断电子铝箔表面氧化膜去除难易程度的检测方法，其特征在于：根据步骤(4)测量的电容值的变化情况(绘制的时间-静电容量曲线)判断氧化去除难易程度，判断依据为：所测得的静电容量越高，根据公式C＝εS/d可知，氧化膜厚度越薄，根据绘制的时间-静电容量曲线，静电容量越快升至最高点，证明氧化膜去除更容易。