详情

原文传递检体容器以及自动分析装置

专利名称：	检体容器以及自动分析装置
摘要：	本发明提供一种检体容器，即使在试管的口径存在偏差的情况下也能够高精度地分注检体。该检体容器具有：收纳部，其收纳检体并且插入试管；以及凸缘部，其设置于所述收纳部的上端并载置于所述试管的开口端部，该检体容器的特征在于，所述收纳部具有筒形状的主体部和与所述主体部相连且杯形状的底部，所述底部具有斜度，该斜度是与所述主体部相连的内壁和中心轴所成的角小于20度的斜度。
专利类型：	发明专利
申请人：	株式会社日立高新技术
发明人：	和久井章人;森高通;泷泽光;饭岛昌彦;寒河江望
专利状态：	有效
申请日期：	2022-02-18T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-28T00:00:00+0800
申请号：	CN202280027347.8
公开号：	CN117136310A
代理机构：	北京银龙知识产权代理有限公司
代理人：	金成哲;宋春华
分类号：	G01N35/02;G;G01;G01N;G01N35;G01N35/02
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种检体容器，具有：收纳部，其收纳检体并且插入试管；以及凸缘部，其设置于所述收纳部的上端并载置于所述试管的开口端部，所述检体容器的特征在于，所述收纳部具有筒形状的主体部和与所述主体部相连且杯形状的底部，所述底部具有斜度，该斜度是与所述主体部相连的内壁和中心轴所成的角小于20度的斜度。 2.根据权利要求1所述的检体容器，其特征在于，在将所述检体容器相对于所述试管的水平方向的位置偏移量设为A、将用于所述检体的分注的检体分注探针的外径设为C时，所述底部的上端部的内径B为B＞A+C/2。 3.根据权利要求1所述的检体容器，其特征在于，在所述凸缘部的下表面设有同心圆形状的台阶，所述台阶的外径除以所述底部的外径而得到的值为1.6以上，或者，所述试管的内壁与所述底部的外壁的间隙为2.3mm以上。 4.根据权利要求3所述的检体容器，其特征在于，对所述台阶的角部不实施倒角。 5.根据权利要求3所述的检体容器，其特征在于，所述台阶的高度为输送所述试管的输送路径的上表面所具有的凹凸的高度以上。 6.根据权利要求1所述的检体容器，其特征在于，在所述底部的外周设置有圆筒形状且下表面为平面形状的圆筒部。 7.根据权利要求1所述的检体容器，其特征在于，在用于所述检体的分注的检体分注探针从死体积的检体的液面高度E插入到深度F时，所述检体分注探针的前端距所述底部的底面具有规定的距离Δ1以上。 8.根据权利要求1所述的检体容器，其特征在于，在将死体积的检体的液面高度设为E时，所述底部的深度D为D＞E。 9.一种自动分析装置，对收纳于权利要求1所述的检体容器的所述检体进行分析，所述自动分析装置的特征在于，在所述检体容器相对于所述试管在水平方向发生了位置偏移时，通过使在所述检体的分注中使用的检体分注探针与所述底部的内壁接触，来校正所述位置偏移。