专利名称: |
显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构 |
摘要: |
本实用新型公开了一种显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构,包括安装座、滤膜、压圈、透气芯、密封板和负压接头;安装座上设有安装孔,透气芯设于安装孔内,透气芯具有若干个均匀透气孔,滤膜平铺在透气芯上,压圈抵靠在安装座上并压住滤膜的周向边沿;密封板可拆卸设于透气芯下方并与透气芯间隔开以形成负压腔,负压接头设于安装座上,安装座内设有负压孔,负压接头通过负压孔与负压腔连通。本方案采用负压吸附的方式的对滤膜进行固定,并通过负压的一直维持,使滤膜的平整度提高,帮助显微镜成像清晰,可以完美的捕捉颗粒的图像完成颗粒计数和尺寸信息统计。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京维埃迪光电技术有限公司 |
发明人: |
郑诚 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2023-04-20T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2023-11-17T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202320894829.5 |
公开号: |
CN220040212U |
代理机构: |
北京博识智信专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
王广涛 |
分类号: |
G01N21/01;G01N21/84;B25B11/00;G;B;G01;B25;G01N;B25B;G01N21;B25B11;G01N21/01;G01N21/84;B25B11/00 |
申请人地址: |
210043 江苏省南京市江北新区南浦路327号6楼 |
主权项: |
1.一种显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构,其特征在于,包括安装座、滤膜、压圈、透气芯、密封板和负压接头; 所述安装座上设有安装孔,所述透气芯设于所述安装孔内,所述透气芯具有若干个均匀透气孔,所述滤膜平铺在所述透气芯上,所述压圈抵靠在安装座上并压住所述滤膜的周向边沿; 所述密封板可拆卸设于所述透气芯下方并与所述透气芯间隔开以形成负压腔,所述负压接头设于所述安装座上,所述安装座内设有负压孔,所述负压接头通过所述负压孔与所述负压腔连通。 2.根据权利要求1所述的显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构,其特征在于,所述透气芯为砂芯工装。 3.根据权利要求1所述的显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构,其特征在于,所述压圈的外周壁上设有环形的凹槽以形成台阶部,所述压圈抵靠在所述安装孔的周向上边沿,所述台阶部伸入所述安装孔内并压住所述滤膜的周向边沿。 4.根据权利要求1所述的显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构,其特征在于,所述安装孔的底部设有安装槽,所述密封板可拆卸设于所述安装槽内。 5.根据权利要求4所述的显微镜清洁度检测用滤膜负压吸平结构,其特征在于,所述安装槽内设有密封片,所述密封片的外侧设有所述密封板,所述密封板与所述安装座通过螺丝可拆卸相连。 |
所属类别: |
实用新型 |