专利名称: |
一种混料中金属含量的测试方法 |
摘要: |
本发明涉及元素分析技术领域,尤其是涉及一种混料中金属含量的测试方法。本发明的一种混料中金属含量的测试方法,采用X射线荧光光谱仪对待测样品进行测试,得到所述待测样品中金属元素的含量;所述混料中包括三元前驱体和锂源。本发明提供的混料中金属含量的测试方法,可高效、准确的得到三元前驱体与锂源的混料中Ni、Co、Mn各金属含量和金属总含量,从而可准确监控三元前驱体与锂源的混合配比;该测试方法步骤简单、操作方便、安全性高、成本低;并且,检测效率高、准确度高、稳定性好,待测样品仅需采用振荡机进行前处理。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
成都巴莫科技有限责任公司 |
发明人: |
郭永全;蒲丽霞;钱城;吴辉;王蝶 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2023-08-31T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2023-11-28T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202311116163.1 |
公开号: |
CN117129504A |
代理机构: |
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 |
代理人: |
徐炀 |
分类号: |
G01N23/223;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
申请人地址: |
610400 四川省成都市金堂县成都-阿坝工业集中发展区蓉州街成阿商务中心三楼6908室 |
主权项: |
1.一种混料中金属含量的测试方法,其特征在于,采用X射线荧光光谱仪对待测样品进行测试,得到所述待测样品中金属元素的含量; 所述混料中包括三元前驱体和锂源。 2.根据权利要求1所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,所述三元前驱体包括镍钴锰氢氧化物;所述锂源包括氢氧化锂和/或碳酸锂。 3.根据权利要求1所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,所述金属元素包括Ni、Co和Mn中的至少一种。 4.根据权利要求1所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,包括如下步骤: 对所述待测样品进行压片处理,得到待测样片; 采用X射线荧光光谱仪对所述待测样片进行测试,得到所述待测样片中金属元素的X射线荧光强度;根据标准曲线计算得到所述待测样品中金属元素的含量。 5.根据权利要求4所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,所述压片处理前还包括对所述待测样品进行前处理; 优选地,所述前处理包括采用垂直振荡机对所述待测样品进行振荡处理; 优选地,所述振荡处理的时间为1~5min,所述振荡处理的转速为1000~1800RPM。 6.根据权利要求4所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,所述待测样品的粒径D50为1~20μm。 7.根据权利要求4所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,所述待测样片的质量为3~6g; 和/或,所述待测样片的直径为3~5cm; 和/或,所述待测样片的厚度为0.5~8mm。 8.根据权利要求4所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,所述压片处理的压力为2~6MPa; 和/或,所述压片处理的时间为1~3min。 9.根据权利要求4所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,还包括如下步骤: 提供5~7个金属元素含量不同的标准样品; 采用滴定法对所述标准样品进行测试,得到所述标准样品中金属元素的含量; 对所述标准样品进行压片处理,得到标准样片;采用X射线荧光光谱仪对所述标准样片进行测试,得到所述标准样品中金属元素的X射线荧光强度; 将测得的所述标准样品中金属元素的含量与相对应的X射线荧光强度建立成标准曲线。 10.根据权利要求1所述的混料中金属含量的测试方法,其特征在于,根据C=b×I+a进行计算,得到所述待测样品中金属元素的含量;式中,a和b为标准曲线拟合系数,C为所述待测样品中金属元素的含量,I为所述待测样品中金属元素的X射线荧光强度。 |
所属类别: |
发明专利 |