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原文传递检测方法及检测装置

专利名称：	检测方法及检测装置
摘要：	在检测方法中，使与第1靶物质(11)结合的第1电介质颗粒(21)和与第2靶物质(12)结合且具有与第1电介质颗粒(21)不同的介电泳特性的第2电介质颗粒(22)与包含第1靶物质(11)和第2靶物质(12)的试料(10)进行反应，通过使介电泳作用于所述反应后的试料(10)，从而将结合了第1靶物质(11)的第1复合体颗粒(31)从其它第1电介质颗粒(21)分离，并且，将结合了第2靶物质(12)的第2复合体颗粒(32)从其它第2电介质颗粒(22)分离，分别对分离后的第1复合体颗粒(31)所包含的第1靶物质(11)和分离后的第2复合体颗粒(32)所包含的第2靶物质(12)进行检测。
专利类型：	发明专利
申请人：	松下知识产权经营株式会社
发明人：	有本聪;管野天;平冈类
专利状态：	有效
申请日期：	2022-02-22T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-10T00:00:00+0800
申请号：	CN202280020917.0
公开号：	CN117043589A
代理机构：	北京市中咨律师事务所
代理人：	张轶楠;段承恩
分类号：	G01N27/00;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/00
申请人地址：	日本大阪府
主权项：	1.一种检测方法，包括：使第1电介质颗粒和第2电介质颗粒与试料进行反应，所述第1电介质颗粒是由具有与第1靶物质特异性地结合的性质的第1物质进行了修饰的电介质颗粒，所述第2电介质颗粒是由具有与不同于所述第1靶物质的第2靶物质特异性地结合的性质的第2物质进行了修饰且具有与所述第1电介质颗粒不同的介电泳特性的电介质颗粒，所述试料包含所述第1靶物质和所述第2靶物质；通过使介电泳作用于所述反应后的所述试料，从而将作为结合了所述第1靶物质的所述第1电介质颗粒的第1复合体颗粒从其它所述第1电介质颗粒分离，并且，将作为结合了所述第2靶物质的所述第2电介质颗粒的第2复合体颗粒从其它所述第2电介质颗粒分离；以及分别对分离后的所述第1复合体颗粒所包含的所述第1靶物质和分离后的所述第2复合体颗粒所包含的所述第2靶物质进行检测。 2.根据权利要求1所述的检测方法，在使所述介电泳起作用时，以分时的方式使基于第1频率的交流电压的第1介电泳和基于与所述第1频率不同的第2频率的交流电压的第2介电泳起作用。 3.根据权利要求1或2所述的检测方法，所述第1电介质颗粒中的除了所述第1物质之外的基材部分的粒径与所述第2电介质颗粒中的除了所述第2物质之外的基材部分的粒径不同。 4.根据权利要求1～3中任一项所述的检测方法，在使所述介电泳起作用时，通过对所述试料产生不均匀的电场来使所述介电泳起作用。 5.根据权利要求1～4中任一项所述的检测方法，所述第1物质和所述第2物质各自为抗体。 6.根据权利要求1～5中任一项所述的检测方法，所述第1电介质颗粒中的除了所述第1物质之外的基材部分的光谱学特性与所述第2电介质颗粒中的除了所述第2物质之外的基材部分的光谱学特性不同。 7.一种检测装置，具备：反应部，其使第1电介质颗粒和第2电介质颗粒与试料进行反应，所述第1电介质颗粒是由具有与第1靶物质特异性地结合的性质的第1物质进行了修饰的电介质颗粒，所述第2电介质颗粒是由具有与不同于所述第1靶物质的第2靶物质特异性地结合的性质的第2物质进行了修饰且具有与所述第1电介质颗粒不同的介电泳特性的电介质颗粒，所述试料包含所述第1靶物质和所述第2靶物质；分离部，其通过使介电泳作用于反应后的所述试料，从而将作为结合了所述第1靶物质的所述第1电介质颗粒的第1复合体颗粒从其它所述第1电介质颗粒分离，并且，将作为结合了所述第2靶物质的所述第2电介质颗粒的第2复合体颗粒从其它所述第2电介质颗粒分离；以及检测部，其分别对分离后的所述第1复合体颗粒所包含的所述第1靶物质和分离后的所述第2复合体颗粒所包含的所述第2靶物质进行检测。 8.一种检测方法，包括如下的步骤(a)和步骤(b)，步骤(a)：将包含多个第1靶物质和多个第2靶物质的试料、多个第1电介质颗粒以及多个第2电介质颗粒容纳于第1空间，由此，第1空间包含第1复合体颗粒、第2复合体颗粒、第3电介质颗粒以及第4电介质颗粒，所述多个第1电介质颗粒各自包含第1基材和对所述第1基材进行了修饰的第1物质，所述多个第2电介质颗粒各自包含第2基材和对所述第2基材进行了修饰的第2物质，所述多个第1电介质颗粒包括所述第3电介质颗粒和第5电介质颗粒，所述多个第2电介质颗粒包括所述第4电介质颗粒和第6电介质颗粒，所述第1复合体包含所述第5电介质颗粒和所述多个第1靶物质所包括的第3靶物质，所述第5电介质颗粒与所述第3靶物质经由所述第1物质相结合，所述第2复合体包含所述第6电介质颗粒和所述多个第2靶物质所包括的第4靶物质，所述第6电介质颗粒与所述第4靶物质经由所述第2物质相结合，所述第3电介质颗粒与所述多个第1靶物质中的任何第1靶物质都不结合，所述第3电介质颗粒与所述多个第2靶物质中的任何第2靶物质都不结合，所述第4电介质颗粒与所述多个第1靶物质中的任何第1靶物质都不结合，所述第4电介质颗粒与所述多个第2靶物质中的任何第2靶物质都不结合，所述第1物质能够与所述多个第1靶物质所包括的一个第1靶物质直接结合，所述第2物质能够与所述多个第2靶物质所包括的一个第2靶物质直接结合，所述第1物质与所述多个第2靶物质中的任何第2靶物质都无法直接结合，所述第2物质与所述多个第1靶物质中的任何第1靶物质都无法直接结合，所述第1基材的粒径比所述第2基材的粒径的各粒径大，步骤(b)：在不同的时间对所述第1空间所包含的第1区域施加具有多个频率的多个电压，由此，检测所述第3电介质颗粒、所述第4电介质颗粒、第1复合体颗粒以及第2复合体颗粒的每一个，所述多个频率互不相同。
所属类别：	发明专利