专利名称: |
基于阵列远场涡流的检测探头及紧固件孔边缺陷定位方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于阵列远场涡流的检测探头及紧固件孔边缺陷定位方法,涉及紧固件检测技术领域,本发明的阵列远场涡流检测探头,采用放置式静态的方式对紧固件进行检测,无需旋转即可一次性将紧固件孔边全覆盖检测,具有扫查面积大和能有效检测埋深缺陷等优点。本发明还提供了一种飞机紧固件孔边缺陷定位方法,通过通道间磁场薄弱区检测信号的衰减规律,利用孔边缺陷与相邻的两个检测通道的角度‑w曲线对缺陷进行定位,反推出缺陷位于线圈正下方时的检测信号,并利用缺陷信号的相位和幅值进行缺陷评价,能够将缺陷定位误差控制在2°以内,定位误差小,定位精度高,检测灵敏度高。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
南昌航空大学;中国飞机强度研究所 |
发明人: |
宋凯;刘小川;王文涛;樊俊铃;宁宁;白生宝 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2023-08-08T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2023-11-21T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202310989694.5 |
公开号: |
CN117092205A |
代理机构: |
北京中睿智恒知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
宋清波 |
分类号: |
G01N27/90;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/90 |
申请人地址: |
330000 江西省南昌市丰和南大道696号; |
主权项: |
1.一种基于阵列远场涡流的检测探头,其特征在于,包括:激励线圈以及环绕激励线圈设置的多个检测线圈; 所述激励线圈中心对准紧固件中心放置; 所述检测线圈用于检测孔周缺陷所在位置;多个所述检测线圈以激励线圈为中心,形成圆形阵列的线圈组。 2.根据权利要求1所述的基于阵列远场涡流的检测探头,其特征在于,所述检测线圈设置有8个,形成8个检测通道,相邻两个所述检测线圈之间相距45°弧度。 3.根据权利要求1所述的基于阵列远场涡流的检测探头,其特征在于,所述紧固件为高锁螺栓。 4.一种基于阵列远场涡流的飞机紧固件孔边缺陷定位方法,应用于权利要求1-3任一所述的基于阵列远场涡流的检测探头,其特征在于,包括以下步骤: S1、将激励线圈组的中心对准紧固件中心放置,进行静态检测,获取阵列检测信号,确定与孔边缺陷相邻的两个检测通道的检测信号; S2、计算出所述两个检测通道的检测信号的幅值比值w,使用所述幅值比值w值通过孔边缺陷与相邻检测通道的角度-w曲线进行定位,得到孔边缺陷的位置; S3、利用磁场薄弱区衰减规律反推出孔边缺陷位于检测线圈轴心的检测信号; S4、利用反推出的检测信号的相位和幅值进行缺陷评价。 5.根据权利要求4所述的基于阵列远场涡流的飞机紧固件孔边缺陷定位方法,其特征在于,所述步骤S4,利用反推出的检测信号的相位和幅值进行缺陷评价,包括:根据反推出的检测信号的相位确定孔边缺陷的埋深,根据反推出的检测信号的的幅值确定孔边缺陷的长度。 |
所属类别: |
发明专利 |