专利名称: |
多层壁工件的射线照相检测装置及其检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种多层壁工件的射线照相检测装置及其检测方法,该装置包括机房、射线源组件和电气柜,机房的一侧开设升降铅闸门,升降铅闸门的下方设置多层壁工件承载组件。该方法包括以下步骤:将待测的多层壁工件摆放在机房外部的旋转平台上,将装有胶片的暗袋放置在待测部位;机房外部的旋转平台旋转180度进入机房内部,机房内部的旋转平台旋转180度转到机房外部;在曝光同时,将下一批待测的多层壁工件摆放在机房外部的旋转平台上,将装有胶片的暗袋放置在待测部位;待曝光结束,机房外部的旋转平台旋转180度进入机房内部,机房内部的旋转平台旋转180度转到机房外部;重复操作前述步骤。本发明充分利用曝光期间的等待时间,同时提高检测灵敏度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国航发北京航空材料研究院 |
发明人: |
马海全;甘勇;何方成;范洪涛;王倩妮 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2023-06-26T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2023-11-17T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202310761113.2 |
公开号: |
CN117074440A |
代理机构: |
北京知汇林知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
梁庆丰 |
分类号: |
G01N23/04;G01N23/18;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04;G01N23/18 |
申请人地址: |
100095 北京市海淀区温泉镇环山村 |
主权项: |
1.一种多层壁工件的射线照相检测装置,包括机房、射线源组件和电气柜,所述射线源组件设置在所述机房的内部,所述电气柜设置在所述机房的外部,其特征在于:所述机房的一侧开设升降铅闸门,所述升降铅闸门的下方设置多层壁工件承载组件,所述多层壁工件承载组件的外侧设置防护挡板。 2.根据权利要求1所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述多层壁工件承载组件包括旋转圆盘、固定柱、四个连接组件、两个旋转平台、旋转平台伺服电机和多层壁工件定位组件;所述固定柱设置在所述旋转圆盘的上方,所述旋转平台伺服电机设置在所述旋转圆盘的下方;所述两个旋转平台分别设置在所述旋转圆盘的两侧,并分别通过两个所述连接组件与所述固定柱连接;所述多层壁工件定位组件设置在所述旋转平台上。 3.根据权利要求2所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述连接组件包括连接柱、固定块和连接块;所述连接柱的两端分别连接所述固定块和所述连接块,所述固定块与所述固定柱连接,所述连接块与所述旋转平台连接。 4.根据权利要求3所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述两个旋转平台处于同一条水平线上,其中一个旋转平台位于所述机房的内部,另一个旋转平台位于所述机房的外部。 5.根据权利要求4所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述旋转圆盘、固定柱和旋转平台伺服电机位于所述机房的内部;与位于机房内部的旋转平台连接的两个所述连接组件位于所述机房的内部,与位于机房外部的旋转平台连接的两个所述连接组件上的连接柱和固定块位于所述机房的内部,与位于机房外部的旋转平台连接的两个所述连接组件上的连接块位于所述机房的外部。 6.根据权利要求5所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述多层壁工件定位组件包括定位板、定位孔和定位柱;所述定位板垂直设置在所述旋转平台的边缘处,所述定位板上设置所述定位孔,所述定位孔内插入所述定位柱。 7.根据权利要求6所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述射线源组件包括射线源、射线源夹持件、射线源运动滑轨和射线源伺服电机;所述射线源设置在所述射线源夹持件上,所述射线源夹持件设置在所述射线源运动滑轨上,所述射线源伺服电机设置在所述射线源运动滑轨的顶端;所述射线源位于机房内部的所述旋转平台的正上方。 8.根据权利要求7所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述电气柜的内部设置电气控制装置、高压发生器和冷却装置;所述电气控制装置、高压发生器和冷却装置与所述机房连接。 9.根据权利要求8所述的多层壁工件的射线照相检测装置,其特征在于:所述防护挡板的两侧分别设置控制台和胶片柜,所述控制台与所述机房连接;所述升降铅闸门的上方依次设置监控器和射线指示灯;所述机房的侧面设置维护门;所述机房的内部设置摄像头,所述摄像头与所述监控器连接。 10.一种多层壁工件的射线照相检测方法,其特征在于:使用权利要求1-9中任一项所述的多层壁工件的射线照相检测装置,按照先后顺序包括以下步骤: 步骤一:在控制台上开启设备,关闭升降铅闸门,控制射线源,对多层壁工件的射线照相检测装置进行训机,使装置内部的真空度达到检测要求; 步骤二:在训机的同时,将待测的多层壁工件摆放在机房外部的旋转平台上,并使用多层壁工件定位组件将待测的多层壁工件调整到最佳透照姿态;将装有胶片或者IP板的暗袋以及像质计放置在待测的多层壁工件的待测部位,并在暗袋上放置标记标识; 步骤三:待训机结束后,开启升降铅闸门,机房外部的旋转平台承载着待测的多层壁工件沿水平面旋转180度从机房外部转入机房内部,同时带动机房内部的旋转平台沿水平面旋转180度从机房内部转到机房外部,关闭升降铅闸门; 步骤四:根据检测要求在控制台上调整射线源的高度和透照参数,开启射线进行曝光; 步骤五:在曝光的同时,将下一批待测的多层壁工件摆放在机房外部的旋转平台上,并使用多层壁工件定位组件将待测的多层壁工件调整到最佳透照姿态;将装有胶片或者IP板的暗袋以及像质计放置在待测的多层壁工件的待测部位,并在暗袋上放置标记标识; 步骤六:待曝光结束后,开启升降铅闸门,机房外部的旋转平台承载着下一批待测的多层壁工件沿水平面旋转180度从机房外部转入机房内部,同时带动机房内部的旋转平台和旋转平台上已测试结束的多层壁工件沿水平面旋转180度从机房内部转到机房外部,关闭升降铅闸门; 步骤七:根据检测要求在控制台上调整射线源的高度和透照参数,开启射线进行曝光; 步骤八:重复操作步骤五至步骤七,直至将待测的多层壁工件全部检测完毕。 |
所属类别: |
发明专利 |