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原文传递智能超声成孔质量检测仪

专利名称：	智能超声成孔质量检测仪
摘要：	本发明涉及钻孔桩成孔质量检测技术领域，提供一种智能超声成孔质量检测仪，包括探头、驱动组件和安装架；探头用于对钻孔进行质量检测，探头具有超声检测组件，超声检测组件用于发射并接收超声波；驱动组件与探头连接，驱动组件用于驱动探头在钻孔内沿竖直方向移动。本发明的智能超声成孔质量检测仪，通过驱动组件驱动探头在钻孔内移动，使探头在不同深度进行质量检测，探头上的超声检测组件通过朝向孔壁发射并接收超声波的方式进行质量检测，检测方式方便快捷，测试距离远，且无需与孔壁直接接触；探头可一次性完成整个钻孔的质量检测，以便工人一次性对钻孔的所有质量问题进行修复，有效解决了现有技术中检测步骤繁琐，且检测效率低的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中铁十九局集团有限公司
发明人：	赵成龙;封子斌;刘伟峰;胡宗名;邹德玉;王晓研;侯宇翔;郝明亮;翟顺鹏
专利状态：	有效
申请日期：	2023-06-30T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-10T00:00:00+0800
申请号：	CN202310796802.7
公开号：	CN117030845A
代理机构：	北京路浩知识产权代理有限公司
代理人：	董娜
分类号：	G01N29/04;G01N29/265;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/04;G01N29/265
申请人地址：	100076 北京市大兴区经济技术开发区荣华南路19号
主权项：	1.一种智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，包括：探头、驱动组件和安装架；所述探头用于对所述钻孔进行质量检测，所述探头具有超声检测组件，所述超声检测组件用于朝向钻孔的孔壁发射超声波，并接收反射回的所述超声波；所述驱动组件设于所述安装架，所述驱动组件与所述探头连接，所述驱动组件用于驱动所述探头在所述钻孔内沿竖直方向移动。 2.根据权利要求1所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述超声检测组件包括四个检测单元，其中两个所述检测单元沿第一直线排布且彼此方向相反；另外两个所述检测单元沿第二直线排布且彼此方向相反，所述第一直线垂直于所述第二直线。 3.根据权利要求1所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述驱动组件包括第一驱动单元、第一转轴、第一收线筒和承重线；所述承重线与所述探头连接，所述承重线缠绕于所述第一收线筒；所述第一转轴水平设置，且与所述安装架转动连接，所述第一收线筒套设于所述第一转轴上，所述第一驱动单元与所述第一转轴连接，所述第一驱动单元用于驱动所述第一转轴带动所述第一收线筒转动，以收纳或释放所述承重线。 4.根据权利要求3所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述驱动组件还包括：第二收线筒和两个滑轮；所述第二收线筒套设于所述第一转轴，两个所述滑轮分别设于所述探头顶部的相对两侧，两个所述滑轮共面，且两个所述滑轮沿所述第一转轴的轴线方向间隔设置，所述承重线的第一端缠绕于所述第一收线筒上，所述承重线的第二端依次绕于两个所述滑轮上后缠绕于所述第二收线筒上。 5.根据权利要求3所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述第一驱动单元包括第一齿轮、第二齿轮、第一链条和电机；所述第一齿轮套设于所述第一转轴上，所述第二齿轮套设于所述电机的输出轴上，所述第一齿轮和所述第二齿轮通过所述第一链条传动连接。 6.根据权利要求5所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述驱动组件还包括：第二驱动单元，所述第二驱动单元包括第三齿轮、第四齿轮、第五齿轮、第六齿轮、第二链条、转动把手和第二转轴；所述第三齿轮套设于所述第一转轴，所述第四齿轮与所述第五齿轮均套设于所述第二转轴，所述第二转轴与所述安装架转动连接，所述第三齿轮与所述第四齿轮啮合，所述转动把手与所述安装架转动连接，所述第六齿轮套设于所述转动把手上，所述第五齿轮与所述第六齿轮之间通过所述第二链条传动连接。 7.根据权利要求1所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述智能超声成孔质量检测仪还包括：主机和信号线；所述主机通过所述信号线与所述探头连接，所述主机用于控制所述探头对所述钻孔进行质量检测，并获取质量检测数据。 8.根据权利要求7所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述所述智能超声成孔质量检测仪还包括：收线组件，所述收线组件包括第三转轴、第三收线筒和第三驱动单元；所述第三转轴与所述安装架转动连接，所述第三收线筒套设于所述第三转轴，所述信号线缠绕于所述第三收线筒，所述第三驱动单元与所述第三转轴连接，所述第三驱动单元用于驱动所述第三转轴带动所述第三收线筒转动，从而对所述信号线进行收纳。 9.根据权利要求1所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述探头还具有电子罗盘。 10.根据权利要求1所述的智能超声成孔质量检测仪，其特征在于，所述探头还具有深度计，所述深度计设于所述探头的底部，所述深度计用于检测所述探头所处的深度。
所属类别：	发明专利