专利名称: |
全息装置及细胞的评价方法 |
摘要: |
全息装置(10)具有形成由物光(L1)和参考光(L2)的干涉产生的干涉图像的光学系统(200)。光学系统(200)包含:移相器(30),配置于物光或参考光的光路上;及旋转机构(31),使移相器30以物光(L1)或参考光(L2)的光轴作为旋转轴进行旋转。全息装置(10)包含:摄像部(40),拍摄干涉图像;及控制部(50),针对由摄像部(40)拍摄到的干涉图像导出评价值,并根据评价值控制旋转机构(31)的旋转位置。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
富士胶片株式会社 |
发明人: |
安田英纪;大崎龙介 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2022-03-18T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2023-11-21T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202280026344.2 |
公开号: |
CN117098987A |
代理机构: |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人: |
房永峰 |
分类号: |
G01N21/45;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/45 |
申请人地址: |
日本东京 |
主权项: |
1.一种全息装置,其包含: 光学系统,形成由物光和参考光的干涉产生的干涉图像,并且包含配置于所述物光或参考光的光路上的移相器和使所述移相器以所述物光或参考光的光轴作为旋转轴进行旋转的旋转机构; 摄像部,拍摄所述干涉图像;及 控制部,针对由所述摄像部拍摄到的干涉图像导出评价值,并根据所述评价值控制所述旋转机构的旋转位置。 2.根据权利要求1所述的全息装置,其中, 所述评价值为所述干涉图像的像素值的标准差或方差, 所述控制部以使所述评价值成为最大的方式控制所述旋转机构的旋转位置。 3.根据权利要求1所述的全息装置,其中, 所述移相器为半波片。 4.根据权利要求1至3中任一项所述的全息装置,其中, 所述光学系统还包含: 起偏器,配置于所述物光的光路上;及 衰减器,配置于所述参考光的光路上,使所述参考光的光量衰减。 5.根据权利要求4所述的全息装置,其中, 所述控制部以由所述摄像部拍摄到的基于物光的图像的亮度与基于参考光的图像的亮度之差在规定范围内的方式控制所述衰减器中的衰减量。 6.一种评价方法,其为使用了权利要求1至5中任一项所述的全息装置的细胞的评价方法,其中, 将在对所述物光具有透射性的基板上培养的细胞配置于所述物光的光路上,并获取由透射过所述基板及所述细胞的物光和参考光的干涉产生的干涉图像, 根据所述干涉图像生成相位图像, 使用所述相位图像对所述细胞进行评价。 7.根据权利要求6所述的评价方法,其中, 所述相位图像为由透射过所述基板及所述细胞的物光和参考光的干涉产生的干涉图像,是根据在以使干涉图像的像素值的标准差或方差成为最大的方式控制了所述旋转机构的旋转位置的状态下拍摄到的干涉图像生成的。 |
所属类别: |
发明专利 |