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原文传递检测单体故障的非破坏性方法

专利名称：	检测单体故障的非破坏性方法
摘要：	本公开涉及一种用于检测单体故障的非破坏性方法，所述方法包括以下步骤：(a)制备包含碳基材料作为负极活性材料的单体；(b)对单体进行充电；以及(c)从负极的端部向内XRD扫描充电的单体，其中，确认在XRD扫描中出现负极集流器的信号出现之后的区域中是否观察到负极的LiC6峰值。
专利类型：	发明专利
申请人：	株式会社LG新能源
发明人：	金荣德;金大洙;康俊铉
专利状态：	有效
申请日期：	2022-11-18T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-10T00:00:00+0800
申请号：	CN202280018499.1
公开号：	CN117043587A
代理机构：	中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人：	穆森;戚传江
分类号：	G01N23/20;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/20
申请人地址：	韩国首尔
主权项：	1.一种用于检测单体故障的非破坏性方法，所述方法包括以下步骤： (a)制备包含碳基材料作为负极活性材料的单体； (b)对所述单体进行充电；以及 (c)从所述负极的端部向内XRD扫描所充电的单体，其中，确认在XRD扫描中出现负极集流器的信号之后的区域中是否观察到所述负极的LiC6峰值。 2.根据权利要求1所述的非破坏性方法，其中：在4V以上的电压下执行步骤(b)中的单体充电。 3.根据权利要求1所述的非破坏性方法，其中：在所述负极的一个端部朝向内侧执行步骤(c)一次，或者在一个端部朝向所述内侧并且在另一个端部朝向所述内侧执行步骤(c)两次。 4.根据权利要求1所述的非破坏性方法，其中：通过相对于LiC6峰值强度和LiC12峰值强度之和的LiC6峰值强度(ILiC6/(ILiC6+ILiC12))来测量所述LiC6峰值，执行对所述LiC6峰值的观察。 5.根据权利要求4所述的非破坏性方法，其中：如果在XRD扫描中出现所述负极集流器的所述信号之后的区域中所述负极的所述LiC6峰值强度从所述负极的所述端部向所述内侧减小，则判断为故障。 6.根据权利要求1所述的非破坏性方法，其中：如果紧接着在XRD扫描中出现所述负极集流器的所述信号之后观察到所述LiC6峰值，则判断为故障。 7.根据权利要求6所述的非破坏性方法，其中：如果紧接着在XRD扫描中出现所述负极集流器的所述信号之后观察到相对于LiC6峰值强度和LiC12峰值强度之和的LiC6峰值强度(ILiC6/(ILiC6+ILiC12))为0.3以上的区域，则判断为故障。 8.根据权利要求1所述的非破坏性方法，其中：在80％以上的SOC下进行步骤(b)中的所述单体充电，并且如果在紧接着出现所述负极集流器的所述信号之后的区域中观察到相对于LiC6峰值强度和LiC12峰值强度之和的LiC6峰值强度(ILiC6/(ILiC6+ILiC12))为0.8以上的区域，则判断为故障。 9.根据权利要求1所述的非破坏性方法，其中：所述单体故障表示悬伸单体或滑动单体。
所属类别：	发明专利