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原文传递一种气体检测用探测器

专利名称：	一种气体检测用探测器
摘要：	本实用新型提供一种气体检测用探测器，包括管座、管帽和光电探测器芯片，还包括反射件组，所述管帽固定在所述管座上且与所述管座围成密闭的腔室，所述管帽上开设有光窗，所述光电探测器芯片和所述反射件组设置在所述腔室内，所述腔室内填充有被测气体，其中，光束从所述光窗进入所述腔室后投射到所述反射件组上，经所述反射件组反射后投射到所述光电探测器芯片上。本实用新型可提高气体检测用探测器的光程从而提高探测器的分辨率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉市翎澜光电科技有限公司
发明人：	许清
专利状态：	有效
申请日期：	2022-12-26T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-28T00:00:00+0800
申请号：	CN202223470814.0
公开号：	CN220104855U
代理机构：	北京汇泽知识产权代理有限公司
代理人：	张小丽
分类号：	G01N21/39;G01N21/01;G01N21/03;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/39;G01N21/01;G01N21/03
申请人地址：	430074 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区光谷三路777号3号电子厂房5层北面区域01室(自贸区武汉片区)
主权项：	1.一种气体检测用探测器，包括管座、管帽和光电探测器芯片，其特征在于，还包括反射件组，所述管帽固定在所述管座上且与所述管座围成密闭的腔室，所述管帽上开设有光窗，所述光电探测器芯片和所述反射件组设置在所述腔室内，所述腔室内填充有被测气体，其中，光束从所述光窗进入所述腔室后投射到所述反射件组上，经所述反射件组反射后投射到所述光电探测器芯片上。 2.如权利要求1所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述反射件组包括第一反射件和第二反射件，所述光束从所述光窗进入所述腔室后投射到所述第一反射件上，经所述第一反射件反射后投射到所述第二反射件上，经第二反射件反射后投射到光电探测器芯片上。 3.如权利要求2所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述光电探测器芯片与所述第一反射件分别固定在所述管座的上表面，所述管帽上设置有所述光窗，所述第二反射件固定在所述管帽的内侧的所述光窗上。 4.如权利要求3所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述光电探测器芯片与所述第一反射件分别放置在所述管座中心轴的两侧。 5.如权利要求2所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述第一反射件与所述管座的上表面之间的夹角≥1°。 6.如权利要求2所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述第二反射件与所述管座的上表面相对的表面平行设置。 7.如权利要求2所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述第一反射件包括第一反射镜和底座，所述底座为截面为直角梯形或直角三角形的凸台又或者截面为直角梯形或直角三角形的凹槽，所述第一反射镜设置在所述凸台的斜面上或者设置在所述凹槽的斜面上，所述第二反射件为第二反射镜。 8.如权利要求2所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述第一反射件包括反射座和第一高反射率镀膜层，所述反射座设置在所述管座的上表面上，所述反射座为截面为直角梯形或直角三角形的凸台或者截面为直角梯形或直角三角形的凹槽，所述第一高反射率镀膜层设置在所述凸台的斜面上或者设置在所述凹槽的斜面上，所述第二反射件包括设置在所述管帽内壁的所述光窗上的第二高反射率镀膜层。 9.如权利要求8所述的气体检测用探测器，其特征在于，所述管座和所述反射座一体成型。 10.如权利要求1所述的气体检测用探测器，其特征在于，还包括管座管脚，所述管座管脚穿过所述管座与所述光电探测器芯片电连接。
所属类别：	实用新型