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原文传递一种半导体制冷片的工作性能测试装置

专利名称：	一种半导体制冷片的工作性能测试装置
摘要：	本发明涉及一种半导体制冷片的工作性能测试装置，包括测试台，所述测试台的上表面固定连接有测试组件，所述测试台的一侧固定连接有散热组件，所述测试台的内部设置有与散热组件相连通的连通管，所述测试台的上表面开设有用于气流通过的通孔，所述连通管用于散热组件远距离对制冷片进行散热。本发明中，通过将散热组件安装在测试台的外部，能够减少风扇工作时产生的热量向制冷片附近传递，较长的连通管能够使由于风扇产生的热量而升温的气流，顺着连通管流动时与箱体内空气进行热交换，减少其对制冷片的干扰，通过设置隔板，将箱体内进行热交换的部分空气隔离，减少其对制冷片的干扰，进而减少了由于散热组件工作时发热对制冷片产生的影响。
专利类型：	发明专利
申请人：	河南省科学院;郑州航空工业管理学院;郑州轻工业大学
发明人：	张国辉;宋晓辉;邬昌军;郭胜会;余娜娜;张海军;闫琼;贾佳
专利状态：	有效
申请日期：	2023-09-13T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-10T00:00:00+0800
申请号：	CN202311180506.0
公开号：	CN117030790A
代理机构：	深圳市众元信科专利代理有限公司
代理人：	徐佳辰
分类号：	G01N25/20;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/20
申请人地址：	450000 河南省郑州市金水区明理路266-38;;
主权项：	1.一种半导体制冷片的工作性能测试装置，包括测试台(1)，所述测试台(1)的上表面固定连接有测试组件(2)，其特征在于，所述测试台(1)的一侧固定连接有散热组件(3)，所述测试台(1)的内部设置有与散热组件(3)相连通的连通管(4)，所述测试台(1)的上表面开设有用于气流通过的通孔(5)，所述连通管(4)用于散热组件(3)远距离对制冷片进行散热。 2.如权利要求1所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述散热组件(3)包括与测试台(1)一侧固定连接的安装管(301)，所述安装管(301)的内壁固定连接有风扇(302)，所述安装管(301)贯穿测试台(1)的内壁并与连通管(4)相连通。 3.如权利要求1所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述测试台(1)的内壁固定连接有呈L型的隔板(6)，所述连通管(4)贯穿隔板(6)的内壁，所述测试台(1)与隔板(6)相对应的一侧内壁开设有出风口(7)。 4.如权利要求2所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述测试台(1)包括箱体(101)，所述箱体(101)的上表面固定连接有顶盖(102)，所述顶盖(102)的上表面转动连接有转动座(103)，所述转动座(103)的两端均固定连接有放置盒(104)，所述放置盒(104)的内底壁开设有散热孔(105)。 5.如权利要求4所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述转动座(103)的下表面固定连接有转动轴(106)，所述转动轴(106)的底端贯穿顶盖(102)的下表面，所述顶盖(102)的下表面固定连接有限位环(107)，所述限位环(107)的内壁滑动连接有第一齿条(108)，所述转动轴(106)的表面固定连接有第一齿轮(109)，所述第一齿轮(109)与第一齿条(108)啮合，所述限位环(107)的一侧固定连接有第一电动推杆(110)，所述第一电动推杆(110)的输出端贯穿限位环(107)的内壁并与第一齿条(108)的一端固定连接。 6.如权利要求3所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述测试组件(2)包括与顶盖(102)上表面固定连接的支撑板(201)，所述支撑板(201)的背面固定连接有滑轨(202)，所述滑轨(202)的表面滑动连接有滑块(203)，所述滑块(203)的背面固定连接有安装板(204)，所述安装板(204)的背面分别固定连接有两个支撑杆(205)，两个所述支撑杆(205)的底端分别固定连接有正极压块(206)和负极压块(207)，所述正极压块(206)与负极压块(207)配合将制冷片通电，两个所述支撑杆(205)的相对面固定连接有上固定板(208)，所述上固定板(208)的下表面固定连接有上温度传感器(209)，所述隔板(6)的内壁固定连接有下固定板(210)，所述下固定板(210)的上表面固定连接有下温度传感器(211)，所述支撑板(201)的背面固定连接有第二电动推杆(212)，所述第二电动推杆(212)的输出端与安装板(204)的正面固定连接，所述支撑板(201)的正面设置有显示屏(213)，所述测试台(1)的内部设置有控制器。 7.如权利要求2所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述安装管(301)的内壁固定连接有过滤网(9)。 8.如权利要求5所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述箱体(101)的内壁固定连接有滑杆(10)，所述滑杆(10)的表面滑动连接有滑动部，所述滑动部上设置有清扫过滤网(9)上灰尘的清洁部(8)，所述箱体(101)的一侧设置有收集箱(11)，所述收集箱(11)靠近箱体(101)的一侧开设有避让口(12)，所述收集箱(11)内设置有水。 9.如权利要求8所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述滑动部为第二齿条(13)，且第二齿条(13)贯穿箱体(101)的一侧，所述转动轴(106)的底端固定连接有传动轴(14)，所述连通管(4)上开设有直孔，且直孔的内壁固定连接有固定环(15)，所述传动轴(14)的表面与固定环(15)的内壁转动连接，所述传动轴(14)的底端固定连接有第二齿轮(16)，所述第二齿轮(16)与第二齿条(13)啮合。 10.如权利要求9所述的一种半导体制冷片的工作性能测试装置，其特征在于：所述清洁部(8)包括与第二齿条(13)一侧转动连接的固定轴(801)，所述固定轴(801)的表面固定连接有安装筒(802)，所述安装筒(802)的表面固定连接有刷毛(803)，所述第二齿条(13)远离固定轴(801)的一侧固定连接有固定盒(804)，所述固定轴(801)的一端贯穿第二齿条(13)的另一侧并与固定盒(804)的内壁转动连接，所述固定盒(804)的内部设置有卷簧(805)，所述卷簧(805)的一端与固定轴(801)的表面固定连接，所述卷簧(805)的另一端与固定盒(804)的内壁固定连接，所述固定轴(801)的表面固定连接有拉绳(806)，且拉绳(806)绕卷在固定轴(801)的表面，所述拉绳(806)的另一端与箱体(101)的内壁固定连接，所述固定轴(801)的一端固定连接有限位块(807)。
所属类别：	发明专利