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原文传递一种显示面板侧壁缺陷检测方法及装置

专利名称：	一种显示面板侧壁缺陷检测方法及装置
摘要：	本发明公开了一种显示面板侧壁缺陷检测方法及装置，涉及显示面板综合测试技术领域，该方法包括以下步骤：根据低曝光图像定位被测器件DUT的低曝光ink区域的位置；根据低曝光ink区域的位置，在高曝光图像中提取对应的高曝光ink区域，以进行漏光检测。本发明可以准确地定位ink区域位置，并可对ink区域进行精确地缺陷检测。
专利类型：	发明专利
申请人：	武汉精立电子技术有限公司;深圳精测光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
发明人：	何智博;陈武;罗显高;帅敏
专利状态：	有效
申请日期：	2023-09-08T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-24T00:00:00+0800
申请号：	CN202311161925.X
公开号：	CN117110299A
代理机构：	武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	余浩
分类号：	G01N21/88;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/01
申请人地址：	430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号;;
主权项：	1.一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：根据低曝光图像定位被测器件DUT的低曝光ink区域的位置；根据低曝光ink区域的位置，在高曝光图像中提取对应的高曝光ink区域，以进行漏光检测。 2.根据权利要求1所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于，所述根据低曝光图像定位被测器件DUT的低曝光ink区域的位置，包括：截取低曝光图像中DUT的部分区域，通过梯度计算出低曝光ink区域的上下边缘；截取ink区域的上下边缘之间的区域，定位低曝光ink区域的左右边缘；根据低曝光ink区域的上下边缘的和左右边缘确定低曝光ink区域的位置。 3.根据权利要求2所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于，所述截取低曝光图像中DUT的部分区域，通过梯度计算出低曝光ink区域的上下边缘，包括：截取低曝光图像中DUT的部分区域作为感兴趣区域ROI；在水平方向上计算ROI中每一行像素点的均值；计算均值数组的梯度值；根据梯度值的大小定位ink区域的上下边缘。 4.根据权利要求2所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于，所述截取ink区域的上下边缘之间的区域，定位低曝光ink区域的左右边缘，包括：截取低曝光ink区域的上下边缘之间的区域，并对该区域进行阈值分割和形态学处理；根据阈值分割和形态学处理后二值区域定位低曝光ink区域的左右边缘。 5.根据权利要求2所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于：在截取低曝光图像中DUT的部分区域之前，还包括对所述低曝光图像进行水平校正的步骤。 6.根据权利要求5所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于，对所述低曝光图像进行水平校正，包括：提取低曝光图像高亮区的上边缘，并对高亮区的上边缘进行直线拟合；根据直线斜率计算倾斜角度，基于倾斜角度对低曝光图像进行水平校正。 7.根据权利要求1所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于：所述根据低曝光ink区域的位置，在高曝光图像中提取对应的高曝光ink区域，以进行漏光检测，包括：根据低曝光ink区域的坐标，在高曝光图像中提取对应的高曝光ink区域；对高曝光ink区域使用亮度阈值进行分割，并筛选出灰度超过该阈值的目标区域；计算所述目标区域的像素面积，并基于面积阈值再次进行筛选，将大于面积阈值的区域判定为缺陷。 8.根据权利要求7所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于：在高曝光图像中提取对应的高曝光ink区域之前，还包括对所述高曝光图像进行水平校正的步骤。 9.根据权利要求1所述的一种显示面板侧壁缺陷检测方法，其特征在于，还包括：采用多个相机对DUT不同的位置进行拍摄，以获取低曝光图像和高曝光图像。 10.一种显示面板侧壁缺陷检测装置，其特征在于，包括：定位模块，其用于根据低曝光图像定位被测器件DUT的低曝光ink区域的位置；检测模块，其用于根据低曝光ink区域的位置，在高曝光图像中提取对应的高曝光ink区域，以进行漏光检测。
所属类别：	发明专利