专利名称: | 基于X射线激发光源的光谱仪 |
摘要: | 本发明涉及用于材料检测的光谱测试仪器,特别是一种基于X射线激发光源的光谱 仪,包括X射线发生器、真空通道、限制狭缝、放置被测样品的旋转样品台、光纤、入射 狭缝、衍射光栅、出射狭缝、凹面镜、透镜、光电倍增管和计算机处理系统;所述的X射 线发生器发出的X-射线,经由真空通道出口的限制狭缝,照射到旋转样品台上的被测样 品上,样品的被激发光通过光纤传导到所述的入射狭缝,再经衍射光栅分光后从出射狭缝 射出,经所述的凹面镜和透镜聚集于光电倍增管,光电倍增管通过A/D转换器与计算机处 理系统相连接。本光谱仪解决了目前的技术手段不能实现准确、完整的检测X射线激发下 发光材料的发光光谱的技术难题。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 吉林;22 |
申请人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
发明人: | 任新光 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-05-20T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910066976.8 |
公开号: | CN101551345 |
代理机构: | 长春菁华专利商标代理事务所 |
代理人: | 赵炳仁 |
分类号: | G01N23/223(2006.01)I |
申请人地址: | 130033吉林省长春市东南湖大路3888号 |
主权项: | 1.一种基于X射线激发光源的光谱仪,其特征在于:包括X射线发生器(1)、控制 快门(K)、真空通道(2)、限制狭缝(S1)、放置被测样品的旋转样品台(3)、光纤(4)、 入射狭缝(S2)、衍射光栅(5)、出射狭缝(S3)、凹面镜(M)、透镜(L)、光电倍增管 (6)和计算机处理系统(7); 所述的X射线发生器(1)发出的X-射线,通过控制快门(K),进入真空通道(2), 经由真空通道出口的限制狭缝(S1),照射到旋转样品台(3)上的被测样品上,样品的被 激发光通过光纤(4)传导到所述的入射狭缝(S2),再经衍射光栅(5)分光后从出射狭 缝(S3)射出,经所述的凹面镜(M)和透镜(L)聚集于光电倍增管(6),光电倍增管 (6)通过A/D转换器与计算机处理系统(7)相连接。 |
所属类别: | 发明专利 |