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一种253.7nm紫外激发灯用磷光体老化性能测试方法
| 专利名称： | 一种253.7nm紫外激发灯用磷光体老化性能测试方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种磷光体材料的老化性能测试方法，具体涉及一种253.7nm 紫外激发灯用磷光体老化性能测试方法。本发明提供的磷光体老化特性的测试 方法为，先将磷光体被测样品和参照样品放在承载样品的玻璃底板凹槽里，然 后将玻璃底板放入样品室内；然后将样品室内抽真空；再往样品室内充入混合 惰性气体Ar-Ne30～50托；再往样品室内充入汞蒸汽；然后将样品室的两端 均匀涂覆碳粉浆料或银浆料，待干燥后形成碳电极或者银电极，通高频交流电， 使样品室内的汞蒸汽电离，放出253.7nm紫外线；最后利用磷光强度探测仪， 记录磷光体受紫外线激发后的发光强度，得到其磷光体老化数据。本发明所述 方法测试方便、简单、准确、使用范围广泛。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 彩虹集团电子股份有限公司 |
| 发明人： | 刘铨铃;李 蓬;梁喜宇;席增卫;赵 翔 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-06-01T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910022770.5 |
| 公开号： | CN101566556 |
| 代理机构： | 西安通大专利代理有限责任公司 |
| 代理人： | 陆万寿 |
| 分类号： | G01N17/00(2006.01)I |
| 申请人地址： | 712021陕西省咸阳市彩虹路1号 |
| 主权项： | 1.一种253.7nm紫外激发灯用磷光体老化性能测试方法，其特征在于：包 括以下操作步骤 (1)将磷光体被测样品和参照样品均匀地放在承载样品的玻璃底板凹槽里， 用表面平整光滑的玻璃片将其压平，然后将承载样品的玻璃底板放入样品室内； (2)先将样品室内抽真空，使样品室的真空度达到4.0×10-4～4.0×10-5 托； (3)接着往样品室内充入体积比为VAr∶VNe＝90～99∶10～1的混合惰性气 体Ar-Ne30～50托； (4)再往样品室内充入汞蒸汽； (5)然后将样品室的两端均匀涂覆碳粉浆料或银浆料，待干燥后形成碳电极 或者银电极，通高频交流电，使样品室内的汞蒸汽电离，放出253.7nm紫外线； (6)最后利用磷光强度探测仪对准被测物品和参照样品，定时记录磷光体受 253.7nm紫外线激发后的发光强度，根据磷光体受253.7nm紫外线照射不同 时间的发光强度数据，得到被测样品和参照样品的磷光体老化数据，再通过对 比被测样品和参照样品的磷光体老化数据，评价被测样品磷光体老化性能指标。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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