专利名称: |
三维图像取得装置和利用该三维图像取得装置的加工装置 |
摘要: |
本发明涉及三维图像取得装置和利用该三维图像取得装置的加工装
置,对聚光到试样空间内的计测点上的光束进行照射,计测透过光量。
根据透过光信号与参照信号测定微弱的光吸收量。一边三维扫描一边获
得将光吸收量作为立体像素的三维地图。对该三维地图,进行将计测点
附近的光强度分布像作为卷积核的反卷积处理,得到在非染色状态下接
近于透明的试样的三维图像。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
株式会社林创研 |
发明人: |
林 彻;石坂昭三 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2009-04-21T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200910132128.2 |
公开号: |
CN101576505 |
代理机构: |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人: |
闫小龙;李家麟 |
分类号: |
G01N21/84(2006.01)I |
申请人地址: |
日本茨城县 |
主权项: |
1.一种三维图像取得装置,将接近于透明的生物材料作为试样,根
据试样透过光的衰减量而获得立体像,其特征在于,包括:
对光强度以预定的频率被振幅调制了的光束进行射出的光源;
将所述光束聚光到试样中的计测点上,生成所述计测点附近的局部
强度分布的物镜;
相对地三维扫描所述试样和所述计测点的单元;
根据所述试样的光透过量计测所述光束的光衰减量的单元;
微小调制信号处理部,计算与没有试样时的光束的透过光量相当的
参照信号电压、和与有试样时的所述光束的透过光量相当的试样透过信
号电压的差,输出与扫描的计测点的位置坐标对应的光束的微小光衰减
量相当的调制信号电压;
使用与所述计测点的位置坐标对应的所述调制信号电压,生成三维
地图的单元;
通过使用了从所述计测点附近的光强度分布像得到的卷积核的反
卷积,或不初始设定卷积核的盲反卷积的任何一个,根据所述三维地图
生成试样的立体像的单元。 |
所属类别: |
发明专利 |