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离子迁移谱检测方法及使用该方法的离子迁移谱仪
| 专利名称： | 离子迁移谱检测方法及使用该方法的离子迁移谱仪 |
| 摘要： | 本发明公开了一种离子迁移谱检测方法，通过获取纯载气进样时的 离子迁移谱和含测试物样品的离子迁移谱；以及将所述纯载气进样时的 离子迁移谱和所述含物质样品的离子迁移谱进行差分处理以获得差分 谱，所述差分谱的特征峰值表征了所述物质样品的属性，并避免仪器自 身干扰源对迁移谱的干扰，由此提高了离子迁移谱检测的灵敏度和准确 度；以及通过对纯载气迁移谱的差分处理，可以发现并修正因环境条件 变化而引起的迁移谱漂移，从而实现离子迁移谱仪的自稳定和自修正。 本发明还公开了采用该方法的离子迁移谱检测器和离子迁移谱仪。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人： | 阮 明;焦 鹏;简应荣;张阳天;林 津;彭 华 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810106169.X |
| 公开号： | CN101576531 |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 |
| 代理人： | 李静岚;谭祐祥 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
| 主权项： | 1、一种离子迁移谱检测方法，包含步骤： 获取纯载气进样时的离子迁移谱； 获取含测试物样品的离子迁移谱；以及 将所述纯载气进样时的离子迁移谱和所述含测试物样品的离子迁移 谱进行差分处理以获得差分谱，所述差分谱的特征峰值表征了所述测试 物样品的属性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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