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原文传递 一种透视检测系统及方法
专利名称: 一种透视检测系统及方法
摘要: 本发明公开了一种透视检测系统及方法,应用于电子组件透视检测, 所述透视检测方法包含以下程序:在电子组件无须移动的情况下,产生出 X光光源及/或可见光光源并照射该电子组件;光源穿透该电子组件后,将 该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强;以及将由可见光照射该电子 组件所形成的外形轮廓影像、以及X光照射该电子组件所形成的内部透视 影像予以迭合;通过所得的该电子组件的迭合影像,而判断、检测该电子 组件。所述透视检测系统,包含:光源模块,承载模块,以及成像模块,镜 头,CCD照相机。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 台湾;TW
申请人: 骏泽科技股份有限公司
发明人: 董文山;范炽格
专利状态: 有效
申请日期: 2008-05-13T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN200810097331.6
公开号: CN101581572
代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人: 马晶晶
分类号: G01B11/24(2006.01)I
申请人地址: 台湾省桃园县
主权项: 1.一种透视检测方法,应用于电子组件透视检测,其特征在于,该透视 检测方法包含以下程序: 在电子组件无须移动的情况下,产生出X光光源及/或可见光光源并照 射该电子组件; 光源穿透该电子组件后,将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增 强;以及 将由可见光照射该电子组件所形成的外形轮廓影像、以及X光照射该电 子组件所形成的内部透视影像予以迭合;通过所得的该电子组件的迭合影 像,而判断、检测该电子组件。
所属类别: 发明专利
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