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一种基于时间闸门的脉冲涡流无损检测方法
| 专利名称： | 一种基于时间闸门的脉冲涡流无损检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于时间闸门的脉冲涡流无损检测方法，是将阵列涡流传 感器贴近构件表面的一个阵列区域进行扫描检测，且由任意波形发生器分别向各 阵列点位置的涡流传感器的激励绕组施加一个预置的具有一定频率的脉冲激励 信号，该脉冲激励信号在构件中所产生的涡流感应信号由各阵列点位置的涡流传 感器的检测绕组分别拾取，利用时间闸门方式提取各阵列点位置涡流传感器的涡 流感应信号的幅值数据，再通过计算阵列区域内阵列点位置的涡流传感器的涡流 感应信号的相对幅值，以及对相对幅值进行灰度处理后，使得成像后的被测构件 的扫描区域能够直观地显示出被测构件的缺陷状态，具有检测方便、易实现，检 测效果准确的优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 林俊明 |
| 发明人： | 林俊明 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910111030.9 |
| 公开号： | CN101581699 |
| 代理机构： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 |
| 代理人： | 李雁翔;连耀忠 |
| 分类号： | G01N27/90(2006.01)I |
| 申请人地址： | 361004福建省厦门市湖滨南路57号金源大厦19楼A爱德森(厦门)电子有限公司 |
| 主权项： | 1.一种基于时间闸门的脉冲涡流无损检测方法，其特征在于：包括如 下步骤： a.将阵列涡流传感器贴近构件表面的一个阵列区域进行扫描检测，在 阵列区域内的各阵列点位置，由任意波形发生器分别向各阵列点位置的涡 流传感器的激励绕组施加一个预置的具有一定频率的脉冲激励信号； b.对应于构件的阵列区域内各阵列点位置的涡流传感器的检测绕组分 别拾取各自的激励绕组受所述脉冲激励信号激励后在构件的该阵列点位置 所产生的涡流感应信号； c.所述涡流感应信号经前置放大后由模/数接口送入计算机处理系统； d.在计算机处理系统中，所述的各阵列点位置的涡流传感器的涡流感 应信号分别被处理成以时间为横轴的对应有幅值变化的关系曲线； e.在计算机处理系统中，以相对于施加激励信号的时间原点具有相同 时间间隔的时间点，从所述各关系曲线中分别提取对应于阵列区域内各阵 列点位置的涡流传感器的涡流感应信号的幅值数据； f.在计算机处理系统中，分别计算出阵列区域内各阵列点位置的涡流 传感器在阵列中的相对幅值数据，并将各阵列点位置的涡流传感器所对应 的相对幅值数据按照灰度处理方式处理成对应的灰度数据； g.计算机处理系统根据阵列区域内各阵列点位置的涡流传感器所对应 的灰度数据进行成像处理，并将成像处理信号输出给显示器； h.显示器显示出阵列区域内各阵列点位置的涡流传感器在构件中所对 应扫描区域的灰度图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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