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一种CT投影中心的自动校正方法
| 专利名称： | 一种CT投影中心的自动校正方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法，包括如下步骤：1)使 用CT对被测物进行全周扫描，得到在不同角度下被测物在探测器阵列的 各探测器单元的投影原始数据；2)对所述投影原始数据进行数据处理， 找出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置；3)根据所述 被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出CT投影中心并对 所述投影原始数据进行校正，得到最终的二维断层数据。本发明无需采用 专用模体，无需移动被测物，即可对CT的中心投影位置进行校正，而且 本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序自动运行，节约了测量时 间，延长了射线源及探测器的有效工作寿命。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院过程工程研究所 |
| 发明人： | 孟凡勇;王 维;李静海 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-21T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810112193.4 |
| 公开号： | CN101584587 |
| 代理机构： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 王 勇 |
| 分类号： | A61B6/03(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100190北京市海淀区中关村北二条1号 |
| 主权项： | 1.一种CT投影中心的自动校正方法，包括如下步骤： 1)使用CT对被测物进行全周扫描，得到在不同角度下被测物在探测 器阵列的各探测器单元的投影原始数据； 2)对所述投影原始数据进行数据处理，找出在所述被测物边缘的投 影点在所述探测器阵列中的位置； 3)根据所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出 CT投影中心并对所述投影原始数据进行校正，得到最终的二维断层数据。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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