专利名称: | 热分析仪器 |
摘要: | 一种热分析仪器,尤其一种差分扫描量热仪,其包括第一和第二测量 位置,用于设置温度相对于时间的标称值的预定义温度程序的装置,第一 加热器和第二加热器,用于测量在相应测量位置处的第一和第二温度的第 一传感器和第二传感器,以及控制器,所述控制器用于控制所述第一加热 器的加热功率,以便使得所述被测量第一温度基本跟随所述温度程序,且 所述控制器额外控制所述第一和第二加热器,以便基本使得所述第一和第 二被测量温度之间的差变为零,其特征在于,所述控制器包括用于确定所 述第一和第二被测量温度中哪一个更低的装置,并且向与所述更冷的测量 位置相关的所述加热器施加额外的功率。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 梅特勒-托利多公开股份有限公司 |
发明人: | E·范德克尔克霍夫;P·P·W·范格兰斯文 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-06-12T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910149296.2 |
公开号: | CN101603933 |
代理机构: | 永新专利商标代理有限公司 |
代理人: | 邬少俊;王 英 |
分类号: | G01N25/20(2006.01)I |
申请人地址: | 瑞士格赖芬塞 |
主权项: | 1、一种热分析仪器,尤其一种差分扫描量热仪,包括:第一测量位置 (S),第二测量位置(R),用于设置温度相对于时间的标称值的预定义温 度程序的装置,与所述第一测量位置(S)相关的第一加热器(1),与所述 第二测量位置(R)相关的第二加热器(4),用于测量所述第一测量位置(S) 处的第一温度的第一传感器(3),用于测量所述第二测量位置(R)处的第 二温度的第二传感器(8),还包括控制器,所述控制器用于控制所述第一 加热器(1)的加热功率,以便使得所述被测量第一温度基本跟随所述温度 程序,且额外地控制所述第一和第二加热器(1,4),以便基本使得所述第 一和第二被测量温度之间的差变为零,其特征在于,所述控制器包括用于 确定所述第一和第二被测量温度中哪一个更低的装置(13),并且所述控制 器向与具有所述更低被测量温度的所述测量位置相关的所述加热器(1,4) 施加额外的功率。 |
所属类别: | 发明专利 |