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同时测量两种或更多气体成份的波长调制光谱
| 专利名称： | 同时测量两种或更多气体成份的波长调制光谱 |
| 摘要： | 在单一样品区内同时测量两种或更多气体成份浓度或浓度比的方法和系 统包括：一个波长调制的光源；一个声波探测器或光探测器；以及分析来自 声波探测器或光探测器的信号和计算浓度或浓度比的手段。光源产生的光被 传播通过样品区。部分光被样品区内的气体成份吸收并产生光声信号。声波 探测器是用来对光声信号采样。另一方式是用光探测器在光传播通过样品区 后对光强进行采样。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 詹姆斯·於 |
| 发明人： | 詹姆斯·於 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2007-09-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200780040015.9 |
| 公开号： | CN101617192 |
| 代理机构： | 北京鸿元知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 陈英俊 |
| 分类号： | G01B9/02(2006.01)I |
| 申请人地址： | 美国德克萨斯州 |
| 主权项： | 1.一种同时测量一个样品区内至少两种气体成份的浓度或浓度比的波长 调制光谱系统，包括： 从一个光源产生调制频率为f的波长调制的光； 所述气体成份在所述光的波长调制范围内具有不同的吸收光谱； 传播所述光通过所述样品区； 测量所述样品区内所述光的吸收以及提供所测量信号的手段； 分析所述所测量信号以及计算所述浓度或所述浓度比的手段。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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