原文传递
用于定量实时分析荧光样品的方法和装置
| 专利名称： | 用于定量实时分析荧光样品的方法和装置 |
| 摘要： | 提供了用于定量实时分析荧光样品的方法，其中，所述样品中的每一个被 样品单用光源(12)激励而发荧光，并且测量样品发射的光的强度。为减少分析时 间，为了即使在光强度低时也进行高度精确的测量，每个光源(12)在所定义的间 隔期间通过具有恒定脉冲频率的时钟脉冲序列交替地打开和关闭。仅仅在所述 光源(12)的开启阶段进行对这些间隔期间的发射光强度的测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 埃佩多夫股份公司 |
| 发明人： | N·维特席夫;R·特雷普托;G·J·埃克特;A·席尔 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2007-10-10T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200780037836.7 |
| 公开号： | CN101617218 |
| 代理机构： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
| 代理人： | 屠长存 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I |
| 申请人地址： | 德国汉堡 |
| 主权项： | 1、一种用于定量实时分析荧光样品的方法，其中，所述样品被样品单用的 光源(12)激励而发荧光，并且测量荧光样品发出的光的强度，其特征在于：在所 定义的间隔内，通过具有恒定脉冲频率的时钟脉冲序列使每个光源(12)周期性地 被开启和关闭，并且仅仅在所述光源(12)的开启阶段测量所述样品的发射光的强 度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
