专利名称: | 横梁弯曲衍射法测杨氏模量实验仪 |
摘要: | 本实用新型涉及测杨氏模量实验仪,包括加力机构、挠度放大机构和测 试衍射条纹分布的测试机构,加力机构由螺旋加力装置和拉力传感器组成, 螺旋加力装置设于支架上,挠度放大机构包括产生狭缝的上刀口、下刀口和 半导体激光器,测试对象中部与上刀口连接,测试对象两端定位于支架上, 拉力传感器将螺旋加力装置和上刀口连接,下刀口安装于可调高度支撑架上。 本实用新型与同类仪器相比解决了仪器稳定性方面的问题,测量对象范围更 广,在测量精度上有很大的提高,精度可达到3%以内。可在很短的距离对衍 射条纹进行测量,节约实验场地。 |
专利类型: | 实用新型专利 |
国家地区组织代码: | 重庆;85 |
申请人: | 重庆工学院 |
发明人: | 梁 霄;田 源;聂喻梅;杨长中;刘 强 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-01-06T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200920126037.3 |
公开号: | CN201331468 |
代理机构: | 重庆博凯知识产权代理有限公司 |
代理人: | 李海华 |
分类号: | G01N3/08(2006.01)I |
申请人地址: | 400054重庆市巴南区李家沱红光大道69号 |
主权项: | 1、横梁弯曲衍射法测杨氏模量实验仪,包括加力机构、挠度放大机构和 测试衍射条纹分布的测试机构,其特征在于:加力机构由螺旋加力装置(1) 和拉力传感器(2)组成,螺旋加力装置(1)设于支架上,挠度放大机构包 括产生狭缝的上刀口(6)、下刀口(7)和通过狭缝(9)产生衍射条纹的半 导体激光器,测试对象(10)中部与上刀口(6)连接,测试对象(10)两端 定位于支架上,拉力传感器(2)将螺旋加力装置(1)和上刀口(6)连接, 下刀口(7)安装于可调高度支撑架(8)上。 |
所属类别: | 实用新型 |