专利名称: |
单脉冲测量材料非线性折射的装置 |
摘要: |
本实用新型公开了一种单脉冲测量材料非线性折射的装置,包括激光光
源、分束器、监测光路和探测光路,所述监测光路中设有探测器,所述探测
光路中设有凸透镜、待测样品和第二探测器,其特征在于:在所述探测光路
的凸透镜之前,设有一相位物体,所述相位物体为环形结构,该环形部与内
孔处的相位差在π/4~3π/4之间,内孔孔径为入射光斑束腰半径的0.1~0.3
倍;在所述第二探测器之前,设有一中心和光轴重合的小孔径光阑。本实用
新型的装置结构简单、成本低,测量非常方便,可应用于非线性光学测量、
非线性光子学材料、非线性光学信息处理和光子学器件等研究领域,尤其是
非线性光功能材料的测试和改性等关键环节。 |
专利类型: |
实用新型专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
苏州大学 |
发明人: |
宋瑛林;杨俊义;金 肖;税 敏;李常伟 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2009-01-08T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN200920037641.9 |
公开号: |
CN201331494 |
代理机构: |
苏州创元专利商标事务所有限公司 |
代理人: |
陶海锋 |
分类号: |
G01N21/41(2006.01)I |
申请人地址: |
215123江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路199号 |
主权项: |
1.一种单脉冲测量材料非线性折射的装置,包括激光光源(1)、分束器(2)、
监测光路和探测光路,所述监测光路中设有探测器(3),所述探测光路中设有
凸透镜(5)、待测样品(6)和第二探测器(8),其特征在于:在所述探测光路的
凸透镜(5)之前,设有一相位物体(4),所述相位物体(4)为环形结构,该环形
部与内孔处的相位差在π/4~3π/4之间,内孔孔径为入射光斑束腰半径的
0.1~0.3倍;在所述第二探测器(8)之前,设有一中心和光轴重合的小孔径光
阑(7)。 |
所属类别: |
实用新型 |