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一种可自动控制薄液厚度的电解池装置
| 专利名称： | 一种可自动控制薄液厚度的电解池装置 |
| 摘要： | 本实用新型属于电化学领域，涉及一种可自动控制薄液膜厚度的电解池装置，可实现10 μm-990μm薄液膜厚度的连续自动控制，可用于测量电偶或单种金属电极在上述薄液膜厚度 范围内的电化学行为。电解池装置主要由薄液膜的形成系统和厚度测量系统构成。薄液膜的 形成系统由水位探头、注水器、液位继电器、电磁阀等组成并用导线连通。厚度测量系统主 要由灵敏的欧姆表和焊有水位探头的螺旋测微器构成，测量薄液膜的厚度。本实用新型优点 是在准确、简洁地测量出薄液膜的厚度，并在此基础上实现了长期测试过程中薄液膜厚度的 稳定控制，保证电化学测试环境的稳定。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京科技大学 |
| 发明人： | 董超芳;顾其德;李晓刚;周和荣;肖 葵 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-11-18T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200820123689.7 |
| 公开号： | CN201335805 |
| 分类号： | G01N17/02(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100083北京市海淀区学院路30号 |
| 主权项： | 1.一种可自动控制薄液厚度的电解池装置，其特征是由水平台(1)、反应容器(2)、溶 液(3)、有机玻璃盖(4)、加液孔(5)，溶液箱(9)、参比电极(10)、对电极(13)、试样 台(16)及薄液膜的形成系统和厚度测量系统构成，薄液膜形成系统包括注水器(6)、电磁 阀(7)、液位继电器(8)、水位探头(12)；厚度测量系统包括灵敏的欧姆表(14)、水位探头 (12)、螺旋测微器(11)、工作电极(15)；反应容器(2)置于水平台(1)上，薄液膜的形 成系统和厚度测量系统均在反应容器(2)中，溶液(3)能从位于有机玻璃盖(4)右侧的加 液孔(5)加入，电解池用有机玻璃盖(4)覆盖；液位继电器(8)的输入端与水位探头(12) 通过导线相连，向液位继电器(8)提供信号，其输出端通过导线与电磁阀(7)的两端相连， 控制溶液箱(9)中的溶液通过注水器(6)开启或关闭，液位继电器的工作电压为220V；顶 部焊有导线的螺旋测微器(11)通过导线与欧姆表(14)的一个接线端相连，欧姆表(14)的另 一个接线端通过导线与放在试样台(16)上的工作电极(15)相连接，当焊在螺旋测微器上 的水位探头(12)与工作电极(15)的表面或者溶液(3)相接触时，薄液膜厚度测量装置即能导 通；当得到所需的液膜厚度条件后，将参比电极(10)、对电极(13)、工作电极(15)与电化 学工作站相连接，即能进行电化学测量。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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