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用于介质膜反光碗的光谱测量装置
| 专利名称： | 用于介质膜反光碗的光谱测量装置 |
| 摘要： | 一种用于介质膜反光碗的光谱测量装置，涉及光谱测量技术领域，所解决的是 介质膜反光碗的测量结果一致性差、重复性低且不能直接测量的技术问题。该装置 包括光源、测试架台、分光器和计算机；光源包括用于发光的投光器和用于将投光 器所发出的光转换为准平行光并将其传输至测试架台上方的透镜组，投光器经光纤 连接至透镜组；测试架台台面上设有用于被测样品的移动导向的导轨，台面下方设 有用于接收光源的准平行光的积分球，积分球由光纤经快门连接至分光器内的分光 仪；分光仪的输出接口连接用于实现暗背景测量以及由透射率至反射率计算的计算 机。本实用新型具有检测结果一致性好、重复性高，能反映全体介质膜反光碗光谱 特性的特点。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 光驰科技(上海)有限公司 |
| 发明人： | 张子业;张 奇;宫 健 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-02-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200920067496.9 |
| 公开号： | CN201344905 |
| 代理机构： | 上海申汇专利代理有限公司 |
| 代理人： | 林 炜 |
| 分类号： | G01N21/59(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200436上海市宝山区城市工业园区城银路267号 |
| 主权项： | 1、一种用于介质膜反光碗的光谱测量装置，其特征在于：包括光源、测试架台、 分光器和计算机； 所述光源包括用于发光的投光器和用于将投光器所发出的光转换为准平行光并 将其传输至测试架台上方的透镜组，所述投光器经光纤连接至透镜组； 所述测试架台台面上设有用于被测样品的移动导向的导轨，台面下方设有用于 接收光源的准平行光的积分球，所述积分球由光纤经快门连接至分光器内的分光仪； 所述分光仪的输出接口连接用于实现暗背景测量以及由透射率至反射率计算的计算 机。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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