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原文传递强度关联远场无透镜成像装置

专利名称：	强度关联远场无透镜成像装置
摘要：	一种强度关联远场无透镜成像装置，特点是该装置包括热光源、沿该热光源发出的光束的前进方向设有分光棱镜，在该分光棱镜的透射光束方向依次是置于远场的待测物体和位于该待测物体反射方向的点探测器；在该分光棱镜的反射光束方向是置于远场的参考光路面探测器，所述的点探测器和参考光路面探测器的输出端同时连接执行数据采集和进行强度关联运算的计算机，所述的热光源、点探测器和参考光路面探测器同时由一个同步信号发生器同步触发控制同时工作。通过对物光路和参考光路探测器记录的强度信息进行关联运算，可获得待测物体的实空间像。
专利类型：	发明专利
申请人：	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人：	韩申生;龚文林;张鹏黎;沈夏
专利状态：	有效
申请日期：	2009-09-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910195346.0
公开号：	CN101701903A
分类号：	G01N21/01(2006.01)I
申请人地址：	201800 上海市800-211邮政信箱
主权项：	一种强度关联远场无透镜成像装置，特征在于该装置包括热光源(1)、沿该该热光源(1)发出的光束的前进方向设有分光棱镜(2)，在该分光棱镜(2)的透射光束方向依次是置于远场的待测物体(3)和位于待测物体(3)反射方向的点探测器(4)；在该分光棱镜(2)的反射光束方向是置于远场的参考光路面探测器(5)，所述的点探测器(4)和参考光路面探测器(5)的输出端同时连接执行数据采集和进行强度关联运算的计算机(6)，所述的参考光路面探测器(5)的探测面到热光源(1)中心的距离z和待测物体(3)的被探测面到热光源(1)中心之间的距离z1满足下列关系：
所属类别：	发明专利