专利名称: | 对准调整装置、库装置以及对准调整方法 |
摘要: | 本发明提供运送盒等被运送物的自动装置(6、8)的对准调整装置、库装置以及对准调整方法,以设置于用于收纳被运送物(盒(4))的收纳架(10)中的基准标志(18A、18B、18C)的测定条件成立为触发时机来测定基准标志,并且根据该测定结果来检测自动装置和收纳架之间的对准的变化量,并根据该变化量来调整对准。对准调整能够在自动装置侧实施,而不会影响到主计算机,能够使自动装置的操作稳定化。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 富士通株式会社 |
发明人: | 佐佐木忍 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2008-07-18T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200880112007.5 |
公开号: | CN101827764A |
代理机构: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人: | 党晓林;李艳艳 |
分类号: | B65G1/04(2006.01)I |
申请人地址: | 日本神奈川县 |
主权项: | 一种对准调整装置,该对准调整装置为自动装置的对准调整装置,所述自动装置进行将被运送物运入到收纳架中以及从收纳架中将被运送物运出的运送动作,其特征在于,该对准调整装置具有:至少两个基准标志,所述基准标志设置于所述收纳架;标志测定单元,该标志测定单元从定位于所述基准标志处的所述自动装置上对所述基准标志进行测定;以及对准调整单元,该对准调整单元依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差,所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测定单元对各所述基准标志的测定值的变化量求得的。 |
所属类别: | 发明专利 |