专利名称: | 靶标量化的方法和应用 |
摘要: | 本发明提供了方法和软件应用,其用于通过收集并处理来自实验样本和包含已知靶标拷贝数的至少两个标准对照样本的初始信号数据,来量化实验样本中的靶标。在这方面,本发明允许量化在实验样本中的靶标拷贝数。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 第三次浪潮技术公司 |
发明人: | H·T·阿拉韦;V·利亚米切瓦;R·皮佩尔 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2008-09-08T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200880110387.9 |
公开号: | CN101970686A |
代理机构: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人: | 罗菊华 |
分类号: | C12Q1/68(2006.01)I |
申请人地址: | 美国威斯康星州 |
主权项: | 一种方法,其用于量化实验样本中的靶标,所述方法包括:a)提供:i)初始信号数据,其包括以多个时间间隔从实验样本和包含不同的已知靶标拷贝数的至少两个标准对照样本检测的分析信号水平,其中所述初始信号数据能够被绘制为实验曲线和至少两个标准对照曲线;以及ii)阈值信号线,其具有i)在时间零处的初始信号值,以及ii)阈值斜率;其中所述阈值信号线在背景水平之上并与所述实验曲线和所述至少两个标准对照曲线中的两个或多个标准对照曲线相交;以及b)处理所述初始信号数据和所述阈值信号线,以产生实验相交时间值和至少两个标准对照相交时间值;c)处理所述至少两个标准对照相交时间值和所述已知靶标拷贝数,以产生包括所述相交时间值与所述已知靶标拷贝数的关系曲线的对数/对数坐标图或线性/对数坐标图的坐标的对数坐标图数据;d)处理所述对数坐标图数据,以产生描述与所述对数坐标图数据拟合的因而产生的斜率的斜率方程;以及e)使用所述斜率方程处理实验相交时间值,以对所述实验样本产生量化的靶标拷贝数。 |
所属类别: | 发明专利 |