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用于借助超声波对试件进行无损检测的方法及装置
| 专利名称： | 用于借助超声波对试件进行无损检测的方法及装置 |
| 摘要： | 本发明的主题内容是一种用于借助超声波来对试件(100)进行无损检测的方法，包括以下方法步骤：a.将声照射角β下的定向超声波脉冲辐照入试件(100)，其中电子地设定该声照射角β，b.记录由辐照入试件(100)的超声波脉冲导致的回波信号，c.从可与试件的体积中的缺陷(102)相关联的回波信号计算该缺陷(102)的关于多个声照射角β的ERS值，以及d.创建对缺陷(102)的图形描绘，从该图形描绘中可至少定性地读出该缺陷的所计算出的ERS值与声照射角β的相关性。此外，本发明还涉及一种适用于执行该方法的装置。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 通用电气传感与检测科技有限公司 |
| 发明人： | Y·奥伯多弗;W-D·克莱纳特 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-12-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200880126452.7 |
| 公开号： | CN101971018A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 张政权;黄珏 |
| 分类号： | G01N29/26(2006.01)I |
| 申请人地址： | 德国许尔特 |
| 主权项： | 一种用于借助超声波来对试件(100)进行无损检测的方法，包括以下方法步骤：a.将声照射角β下的定向超声波脉冲辐照入所述试件(100)，其中电子地设定所述声照射角β，b.记录由辐照入所述试件(100)的所述超声波脉冲导致的回波信号，c.从可与所述试件的体积中的缺陷(102)相关联的回波信号确定所述缺陷(102)的关于多个声照射角β的ERS值，以及d.创建对所述缺陷(102)的图形描绘，从所述图形描绘中可至少定性地读出所述缺陷的所计算出的ERS值与所述声照射角β的相关性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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