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核子测量仪及核子测量仪的配置和校准方法
| 专利名称： | 核子测量仪及核子测量仪的配置和校准方法 |
| 摘要： | 提供了核子测量仪及核子测量仪的配置和校准方法。核子测量仪被用来测量施工材料的密度和/或湿度。核子测量仪包括测量仪外壳(此测量仪外壳内含有竖直腔)，并且在外壳内部还包括至少一个辐射探测器。核子测量仪包括可竖直移动的中子源棒以及被可操作地放置在中子源棒远端的辐射源。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 特克斯勒电子实验室公司 |
| 发明人： | D·E.·韦格;D·M.·斯特克曼;R·E·特罗克斯勒 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-01-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980107515.9 |
| 公开号： | CN101981439A |
| 代理机构： | 永新专利商标代理有限公司 72002 |
| 代理人： | 蔡胜利 |
| 分类号： | G01N23/02(2006.01)I |
| 申请人地址： | 美国北卡罗来纳 |
| 主权项： | 一种核子测量仪，包括：(a)测量仪外壳，所述测量仪外壳包括从其穿过的竖直腔和底座；(b)辐射探测器，所述辐射探测器位于外壳内且邻近于测量仪外壳的底座；(c)竖直可移动的中子源棒，所述中子源棒延伸到测量仪外壳的腔中；(d)辐射源，所述辐射源可操作地布置在中子源棒的远端内；(e)中子源棒组件，所述中子源棒组件适于将中子源棒延伸和缩回到多个预定中子源棒位置，以在辐射源与辐射探测器之间改变空间位置关系；和(f)多个霍尔效应深度传感器，每个深度传感器与至少一个中子源棒位置相关联，其中将中子源棒布置在一个中子源棒位置处会致动一个霍尔效应深度传感器来检测中子源棒的位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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