专利名称: | 用于借助超声波对试件进行无损检测的方法及装置 |
摘要: | 本发明的主题内容是一种用于借助超声波来对试件(100)进行无损检测的方法,包括以下方法步骤:a.将声照射角β下的定向超声波脉冲辐照入试件(100),其中电子地设定该声照射角β,b.记录由辐照入试件(100)的超声波脉冲导致的回波信号,c.从可与试件体积中的缺陷(102)相关联的回波信号计算该缺陷(102)的ERS值。此外,本发明还涉及一种用于执行该方法的装置。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 通用电气传感与检测科技有限公司 |
发明人: | W-D·克莱纳特;Y·奥伯多弗 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2008-12-08T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200880126453.1 |
公开号: | CN101952716A |
代理机构: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人: | 张政权 |
分类号: | G01N29/26(2006.01)I |
申请人地址: | 德国许尔特 |
主权项: | 一种用于借助超声波来对试件(100)进行无损检测的方法,包括以下方法步骤:a.将声照射角β下的定向超声波脉冲辐照入所述试件(100),其中电子地设定所述声照射角β,b.记录由辐照入所述试件(100)的所述超声波脉冲导致的回波信号,c.从可与所述试件体积中的缺陷(102)相关联的回波信号计算所述缺陷(102)的ERS值,其中自动地补偿所述声照射角β的所述电子设定对所述缺陷(102)的所述待确定的ERS值的影响。 |
所属类别: | 发明专利 |