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介质温度的非侵入式光学确定方法
| 专利名称： | 介质温度的非侵入式光学确定方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种介质、尤其是含水介质的温度的非侵入式光学确定方法，其中所要控验的介质被红外光和/或可见光在吸收线的范围内照射，吸收线的位置取决于介质的温度，测量吸收线范围内光的吸收并根据该测量通过与校准数据比较来确定温度。该方法的特征在于，利用至少两个在吸收线(B)范围内处于吸收最大值不同侧上的离散的光波波长(λ1、λ2)照射介质，根据所测定的两个吸收值彼此的比率确定至少一个取决于温度的测量值(ΔA/Δλ)，并根据该测量值通过与此前所记录的校准数据比较来确定温度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 尼尔鲁斯工程股份公司 |
| 发明人： | V·赫尔曼 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-01-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980103071.1 |
| 公开号： | CN101981422A |
| 代理机构： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
| 代理人： | 赵科 |
| 分类号： | G01J5/60(2006.01)I |
| 申请人地址： | 德国吕贝克 |
| 主权项： | 一种介质、尤其是含水介质的温度的非侵入式光学确定方法，利用红外光和/或可见光在吸收线的范围内照射所要检查的介质，所述吸收线的位置取决于所述介质的温度，并且测量所述吸收线的范围内光的吸收并根据该测量通过与校准数据进行比较来确定温度，其特征在于，利用至少两个在所述吸收线的范围内位于吸收最大值不同侧上的离散的光波波长λ1、λ2照射所述介质，根据所确定的两个吸收值A(λ1)、A(λ2)相互的比率或函数关系，确定至少一个取决于温度(T)的测量值或者取决于温度的测量函数，以及根据该测量值或该测量函数，通过与先前所记录的校准数据进行比较来确定温度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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