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原文传递荧光检测方法以及荧光检测装置

专利名称：	荧光检测方法以及荧光检测装置
摘要：	本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置，该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时，与以往相比，能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中，在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时，收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而，在测定对象物通过激光的照射位置后，在激光的照射位置没有测定对象物的状态下，收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号，求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息，并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中，求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
专利类型：	发明专利
申请人：	三井造船株式会社
发明人：	星岛一辉;林弘能;中田成幸
专利状态：	有效
申请日期：	2009-02-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200980107755.9
公开号：	CN101960289A
代理机构：	北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100
代理人：	程凤儒
分类号：	G01N15/14(2006.01)I
申请人地址：	日本国东京都
主权项：	荧光检测方法，对在缓冲液中含有测定对象物并流动的流体的流动，照射使用设定的频率的调制信号并调制了光强度的激光，通过上述照射从而受光装置接收通过的测定对象物发出的荧光，以检测荧光时，其特怔在于，具有：第1步骤，在该步骤中，在测定对象物通过激光的照射位置时，收集上述受光装置接收的荧光的第1荧光信号；和第2步骤，在该步骤中，在上述测定对象物通过上述激光的照射位置后，在激光的照射位置没有上述测定对象物的状态下，收集上述受光装置接收的荧光的第2荧光信号；和第3步骤，在该步骤中，使用上述第2荧光信号相对于上述调制信号的第2相位差信息，调整上述第1荧光信号相对于上述调制信号的第1相位差，通过上述调整从而求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于上述调制信号的第3相位差信息，并从该求出的第3相位差信息中，求出测定对象物的发出的荧光的荧光松弛时间常数。
所属类别：	发明专利