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原文传递钚部件属性测量方法及装置

专利名称：	钚部件属性测量方法及装置
摘要：	本发明公开一种钚部件属性测量方法及装置，装置包括钨光圈及其开度调节机构，用做钚部件Gamma射线采样通道；Gamma射线探测器，对应Gamma射线采样通道，用于探测Gamma射线，将其转换成电脉冲信号；多道分析仪，用于分析来自射线探测器的电脉冲信号，得到有关该Gamma射线源的谱数据；解谱器，用于分析计算谱数据，得到钚部件属性特征参数值；主控制器，用于控制上述各部件的工作过程。测量方法包括步骤：A.用探测器探测钚部件辐射出的Gamma射线，通过调整探测器光圈开度，获得某一确定光通量的Gamma射线，将其装换成相应的电脉冲信号数据；B.用多道分析仪分析该电脉冲信号数据，得到有关该光通量Gamma射线源的谱数据；C.用解谱器分析计算该谱数据，得到钚部件属性的特征参数值，判断、计算其属性值；D.判断结束后，自动清除测量装置中的所有原始测量数据。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	西南科技大学
发明人：	吴斌;聂诗良;李磊民;韩宾;张海涛;刘素萍;郝樊华;刘泾
专利状态：	有效
申请日期：	2009-06-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910059830.0
公开号：	CN101936922A
代理机构：	成都蓉信三星专利事务所 51106
代理人：	刘克勤;贺元
分类号：	G01N23/00(2006.01)I
申请人地址：	621010 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号
主权项：	一种钚部件属性测量装置，包括：钨光圈及其开度调节机构，用做钚部件Gamma射线采样通道；Gamma射线探测器，对应Gamma射线采样通道，用于探测Gamma射线，将其转换成电脉冲信号；多道分析仪，用于分析来自射线探测器的电脉冲信号，得到有关该Gamma射线源的谱数据；解谱器，用于分析计算谱数据，得到钚部件属性特征参数值；主控制器，用于控制上述各部件的工作过程。
所属类别：	发明专利