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原文传递全自动非损伤微测技术

专利名称：	全自动非损伤微测技术
摘要：	本发明提供一种全自动控制微电极接近样品进行测量，非损伤性获得进出样品离子分子浓度、流动速率及流动方向信息，样品表面局部电流信息等样品微区信息的方法。本发明包括信号采集单元(1)、多维运动单元(2)、智能控制单元(3)以及显微成像/视频采集单元(4)。智能控制单元(3)通过分析信号采集单元(1)及显微成像/视频采集单元(4)传输的信号，向多维运动单元(2)和显微成像/视频采集单元(4)发出控制指令，控制微电极与被测样品的运动，实现微电极全自动采集被测样品信息。该方法对被测样品无任何损伤，操作过程完全自动化，不受人为操作因素影响，所获数据稳定可靠，能够应用于生物活体及非生物体等诸多样品。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	旭月(北京)科技有限公司
发明人：	许越
专利状态：	有效
申请日期：	2009-07-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200910090085.6
公开号：	CN101988914A
分类号：	G01N27/27(2006.01)I
申请人地址：	100080 北京市海淀区苏州街49-3号盈智大厦601
主权项：	全自动非损伤微测技术，其特征是，所述的全自动非损伤微测技术包括信号采集单元(1)、多维运动单元(2)、智能控制单元(3)、显微成像/视频采集单元(4)；所述的信号采集单元(1)包括信号处理器(1?1)、前置放大器(1?2)、微电极(1?3)以及其他必要配件；所述的多维运动单元(2)包括运动控制器(2?1)、驱动器(2?2)以及其他必要配件；所述的智能控制单元(3)包括智能控制硬件单元(3?1)和智能控制软件单元(3?2)；所述的智能控制硬件单元包括系统控制盒以及其他必要配件；所述的智能控制软件单元(3?2)包括全自动非损伤微测技术专用软件及其他必要配套软件；所述的智能控制硬件单元(3?1)为智能控制软件单元(3?2)的物质载体，智能控制软件单元(3?2)通过智能控制硬件单元(3?1)发挥功能；所述的显微成像/视频采集单元(4)包括显微镜(4?1)、视频采集主硬件(4?2)以及其他必要配件；所述的显微镜既可以是普通光学显微镜，如倒置显微镜、金相显微镜等，也可以是荧光显微镜、激光共聚焦显微镜或其他类型的显微镜；所述的视频采集主硬件(4?2)为能够采集被测样品及微电极(1?3)图像和位置信息的硬件设备，如全自动影像追踪系统或其他形式的跟踪系统等。
所属类别：	发明专利