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一种用于原位测量评价光催化剂性能的装置及方法
| 专利名称： | 一种用于原位测量评价光催化剂性能的装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种用于原位测量评价光催化剂性能的装置及方法。该装置包括包含污染物溶液的反应容器；用于光照时装载所述反应容器的光照支架；用于测量时装载所述反应容器的测量支架；其中所述光照支架具有第一开口，用于光照时使光照光束通过该第一开口入射到薄膜光催化剂；所述测量支架具有第二和第三开口，用于测量时使测量光束从第二开口入射到污染物溶液并从第三开口射出。采用本发明的装置和方法无需中途取液，同时减少了溶液的蒸发，从而有效提高测试光催化性能的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院物理研究所 |
| 发明人： | 孟庆波;范玉尊;邓明晖;李冬梅;罗艳红 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-08-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910090312.5 |
| 公开号： | CN101988890A |
| 代理机构： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 |
| 代理人： | 王勇 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区中关村南三街8号 |
| 主权项： | 一种用于原位测量评价光催化剂性能的装置，包括：包含污染物溶液和载有薄膜光催化剂的基体的反应容器；用于光照时装载所述反应容器的光照支架；用于测量时装载所述反应容器的测量支架；其中所述光照支架和测量支架各自具有开口，以使光照光束或测量光束从各自的开口中通过。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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