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原文传递光学元件亚表面缺陷的检测装置

专利名称：	光学元件亚表面缺陷的检测装置
摘要：	本实用新型提供一种测量误差小的光学元件亚表面缺陷的检测装置。光学元件亚表面缺陷的检测装置，包括显微镜、精密位移平台、与显微镜连接的图像数据处理单元，在所述图像数据处理单元上还连接有激光位移传感器。本实用新型采用光学显微镜和激光位移传感器进行亚表面缺陷的测量，可同时获得亚表面缺陷深度和不同深度下的亚表面缺陷形貌，实现了对不同深度下亚表面缺陷形貌的观测和深度的精确测量，避免了传统检测重新定位所引入的误差，测量精度在微米量级，本实用新型不仅可用于光学玻璃的亚表面缺陷检测，同样也适用于陶瓷、硅、锗等工程材料的加工亚表面缺陷测量。
专利类型：	实用新型专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	成都精密光学工程研究中心
发明人：	李亚国;雷向阳;郑楠;邓燕;谢瑞清;陈贤华;王健;许乔
专利状态：	有效
申请日期：	2010-06-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201020214402.9
公开号：	CN201697882U
代理机构：	成都虹桥专利事务所 51124
代理人：	蒲敏
分类号：	G01N21/88(2006.01)I
申请人地址：	610041 四川省成都市高新区科园1路3号
主权项：	光学元件亚表面缺陷的检测装置，包括显微镜(1)、精密位移平台(3)、与显微镜(1)连接的图像数据处理单元(4)，其特征在于：在所述图像数据处理单元(4)上还连接有激光位移传感器(2)。
所属类别：	实用新型