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原文传递 一种纺织品表面质量多光谱检测的方法与装置
专利名称: 一种纺织品表面质量多光谱检测的方法与装置
摘要: 一种纺织品表面质量多光谱检测的方法与装置,包括由接触式图像传感器所组成的CIS阵列、多光谱LED通断控制、图像数据采集、电机控制器、主控制器、触摸屏或键盘、显示器、喷墨式指示器、通信接口和打印机组成;其特征在于,主控制器通过电机控制器控制验布机里的电机运转,纺织品在验布机的动力装置带动下经过CIS阵列,电机每前进一步,就进行一次各种光谱照明下的图像数据采集;主控制器对图像数据进行识别后,将疵点、异纤的位置、类别、等级等信息保存下来,并通过通信接口发送到监控中心;喷墨式指示器将用易于清洗的墨水对疵点和异纤位置作出标记,打印机可输出检测报告。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 上海;31
申请人: 上海中方宝达纺织智能仪器有限公司;孔繁金;裘诚
发明人: 孔繁金;裘诚
专利状态: 有效
申请日期: 2010-07-08T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201010222997.7
公开号: CN101957326A
分类号: G01N21/892(2006.01)I
申请人地址: 200051 上海市长宁区安顺路246号201室
主权项: 一种纺织品表面质量多光谱检测的装置,包括由接触式图像传感器(1)所组成的CIS阵列(11)、多光谱LED通断控制(2)、图像数据采集(3)、电机控制器(4)、主控制器(5)、触摸屏或键盘(6)、显示器(7)、喷墨式指示器(8)、通信接口(9)和打印机(10)组成;其特征在于:主控制器(5)通过电机控制器(4)控制验布机(B)里的电机运转,纺织品(A)在验布机(B)的动力装置带动下经过CIS阵列(11),在多光谱LED通断控制(2)的控制下,CIS阵列(11)内的各种光谱的LED分时照射纺织品(A)的待检表面,从纺织品待检表面反射回来的光线由CIS阵列(11)内的光电传感器阵列转换成图像信号后输出到图像数据采集(3),经模数转换后送入主控制器(5);电机每前进一步,就进行一次各种光谱照明下的图像数据采集;主控制器(5)对采集到的图像数据进行识别后,将疵点、异纤的位置、类别、等级的信息保存下来,并通过通信接口(9)发送到监控中心;触摸屏或键盘(6)和显示屏(7)用来进行人机交互;喷墨式指示器(8)和打印机(10)是备选装备,当用户需要对纺织品表面的疵点和异纤的位置进行标记,或需要在线打印检测报告时,喷墨式指示器(8)将用易于清洗的墨水对疵点和异纤的位置作出标记,打印机(10)将输出检测报告。
所属类别: 发明专利
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