专利名称: |
落锤试块测量系统 |
摘要: |
本实用新型涉及一种落锤试块测量系统,它包括一基座、一滑块和一数显百分表;所述基座的上表面设有一矩形槽,且该矩形槽的槽底设有一腰形通孔;所述滑块包括由上至下一体成型的柱体和呈倒几字型的底座,所述底座凸槽的外壁与所述基座的矩形槽的槽壁相匹配,所述柱体的顶面设有一轴孔;所述数显百分表包括依次连接的读数机构、测杆和测头,所述测杆依次伸入所述轴孔和腰形通孔,并与所述滑块连接。本实用新型为降低裂纹、气孔敏感性,为减少焊缝金属塑性的下降,为优化焊接工艺参数和辅助工艺措施提供了强有力的测量依据,同时也为产品质量提供了有效保障。 |
专利类型: |
实用新型专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海电气核电设备有限公司 |
发明人: |
潘福庚;王德泰 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2010-07-19T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201020262903.4 |
公开号: |
CN201715973U |
代理机构: |
上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 |
代理人: |
章蔚强 |
分类号: |
G01B5/00(2006.01)I |
申请人地址: |
201306 上海市浦东新区临港重型装备产业区层林路77号 |
主权项: |
一种落锤试块测量系统,其特征在于,所述的测量系统包括一基座、一滑块和一数显百分表;所述基座的上表面设有一矩形槽,且该矩形槽的槽底设有一腰形通孔;所述滑块包括由上至下一体成型的柱体和呈倒几字型的底座,所述底座凸槽的外壁与所述基座的矩形槽的槽壁相匹配,所述柱体的顶面设有一轴孔;所述数显百分表包括依次连接的读数机构、测杆和测头,所述测杆依次伸入所述轴孔和腰形通孔,并与所述滑块连接。 |
所属类别: |
实用新型 |