专利名称: | 浊度测量装置和用于确定引起浊度的物质的浓度的方法 |
摘要: | 本发明公开了一种浊度测量装置和用于确定引起浊度的物质的浓度的方法。该浊度测量装置包括:第一光源L1和第二光源L2;第一接收器R1和第二接收器R2;其中直接测量路径从光源Li延伸通过测量介质到达接收器Ri,且间接测量路径从光源Li延伸通过测量介质到达第二接收器Rj;其中i≠j;其中浊度作为商A/B的函数能被利用计算电路得到确定;其中A和B至少是在直接或间接测量路径上记录的信号的函数;其中取决于第一光源的强度的至少一个第一监测信号进入两个项A或B中的一个;其中光从第一光源到达监测器,而不与测量介质相互作用;其中监测信号被添加到至少一个在测量路径上记录并进入项A或B的信号中。 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 |
发明人: | 鲁迪格尔·弗兰克;安德烈亚斯·米勒 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2010-07-22T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201010235296.7 |
公开号: | CN101963575A |
代理机构: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人: | 邹璐;樊卫民 |
分类号: | G01N21/00(2006.01)I |
申请人地址: | 德国盖林根 |
主权项: | 浊度测量装置,具有用于记录测量介质的浊度的四束交变光系统,所述浊度测量装置包括:第一光源L1和第二光源L2;第一接收器R1和第二接收器R2;其中第一直接测量路径从所述第一光源L1延伸通过测量介质到达所述第一接收器R1;其中第二直接测量路径从所述第二光源L2延伸到所述第二接收器R2;其中第一间接测量路径从所述光源L1延伸通过所述测量介质到达所述第二接收器R2;其中第二间接测量路径从所述第二光源L2延伸通过所述测量介质到达所述第一接收器R1;其中所述浊度测量装置具有计算电路,利用所述计算电路,浊度能被确定为商A/B的函数;其中项A或B之一至少是在所述直接测量路径上记录的信号的函数;且其中相应的另一项至少是在所述间接测量路径上记录的信号的函数;其特征在于,取决于所述第一光源的强度的至少一个第一监测信号进入到所述两个项A或B之一;其中来自所述第一光源的光到达监测器,而不与所述测量介质相互作用;并且其中所述监测信号被添加到至少一个在所述测量路径上记录并进入所述项A或B中的信号中。 |
所属类别: | 发明专利 |